[发明专利]一种生产工艺指标分析方法、系统、设备和介质

说明书

本发明提出一种生产工艺指标分析方法、系统、设备和介质，包括：获取包含各工艺指标的目标数据，将所述目标数据划分为多个次级目标；其中，所述次级目标与所述工艺指标相对应；获取各所述次级目标的影响因素，并根据所述影响因素与对应次级目标的相关性对影响因素进行重要度排序，获取排序结果中前N个影响因素作为关键因素；根据预设的最大工艺窗口对各次级目标的关键因素进行单因素分析，获取工艺指标分析结果；根据所述分析结果输出对应工艺指标的最优工艺区间；本发明可有效分析各工艺指标是的最优工艺区间，协助工作人员进行指标分析以及工艺参数设置，提高生产控制精度，提高生产效率。

技术领域

本发明涉及智能生产应用领域，尤其涉及一种生产工艺指标分析方法、系统、设备和介质。

背景技术

随着时代的发展，在工艺生产过程中的工艺指标分析需求愈发重要，想找到最优目标参数，是一大难点。针对此问题，现有技术的缺点有如下待优化点：第一，现工艺指标数据量过于庞大，仅由人工分析指标的效率较低，且容易产生遗漏；第二，部分现有技术给出的目标参数结果为模板固定，不可根据实际工艺生产过程的需求灵活把控。第三，对工艺指标在分析过程中，未能全面分析达到全局最优。第四，开发人力和时间成本较高。

发明内容

鉴于以上现有技术存在的问题，本发明提出一种生产工艺指标分析方法、系统、设备和介质，主要解决现有工艺指标分析依赖人工且准确率不高的问题。

为了实现上述目的及其他目的，本发明采用的技术方案如下。

一种生产工艺指标分析方法，包括：

获取包含各工艺指标的目标数据，将所述目标数据划分为多个次级目标；其中，所述次级目标与所述工艺指标相对应；

获取各所述次级目标的影响因素，并根据所述影响因素与对应次级目标的相关性对影响因素进行重要度排序，获取排序结果中前N个影响因素作为关键因素；

根据预设的最大工艺窗口对各次级目标的关键因素进行单因素分析，获取工艺指标分析结果；

根据所述分析结果输出对应工艺指标的最优工艺区间。

可选地，获取包含各工艺指标的目标数据，将所述目标数据划分为多个次级目标，包括：

将连续数据进行离散化处理，获取离散数据作为所述目标数据；

对所述目标数据进行分类获取多个所述次级目标。

可选地，获取各所述次级目标的影响因素，并根据所述影响因素与对应次级目标的相关性对影响因素进行重要度排序，包括：

获取所述次级目标中符合正态分布的参数作为目标变量；

获取所述目标变量对应的影响因素，其中所述影响因素为对应目标变量的关联参数；

对所述目标变量与对应影响因素之间的相关性进行评分得到评分结果或者获取所述目标变量与对应影响因素之间的分布的相似度；

将所述评分结果或相似度作为对应影响因素的重要度值，并根据所述重要度值进行重要度排序。

可选地，得到评分结果的计算方式，包括：

Y₁＝A×y₁+B×y₂

其中，Y₁为评分结果，y₁为所述目标变量与对应影响因素的标准化后的相关性；y₂对应影响因素的专家评分，A、B分别为y₁，y₂的权重。

可选地，获取所述分布的相似度的方式，包括：