[发明专利]一种校正火焰原子吸收法干扰的方法

权利要求书

1.一种校正火焰原子吸收法干扰的方法，包括：

采用火焰原子吸收法检测标准曲线上的特征浓度值的吸光度是否在预设范围内，若不在预设范围通过灵敏度调整进行校正，直至使吸光度达到预设范围；

进行标准曲线绘制，得到标准曲线；

检测所述标准曲线最高段吸光度差和浓度差的比值与最低段吸光度差和浓度差的比值是否在预设范围内，若不在预设范围内通过灵敏度调整进行校正，直至达到预设范围；得到校正后的标准曲线；

采用校正后的标准曲线检测环境样品并进行抗干扰操作，判断是否存在干扰。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述特征浓度值的吸光度的预设范围包括：

检测限～5倍测定下限之间的浓度点，所述检测限～5倍测定下限之间的浓度点的吸光度预设范围为0～0.050；

5倍测定下限～10倍测定下限之间的浓度点，所述5倍测定下限～10倍测定下限之间的浓度点的吸光度预设范围为0.050～0.100；

10倍测定下限～50倍测定下限之间的浓度点，所述10倍测定下限～50倍测定下限之间的浓度点的吸光度预设范围为0.100～0.500。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述10倍测定下限～50倍测定下限之间的浓度点包括次高浓度点；所述次高浓度点的吸光度预设范围包括：

若0.300≥标准曲线最高点的吸光度＞0.200，则次高浓度点的吸光度预设范围为0.100～0.200；

若0.400≥标准曲线最高点吸光度＞0.300，则次高浓度点的吸光度预设范围为0.200～0.300；

若0.500≥标准曲线最高点吸光度＞0.400，则次高浓度点的吸光度预设范围为0.300～0.400；

若0.600≥标准曲线最高点吸光度＞0.500，则次高浓度点的吸光度预设范围为0.400～0.500。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述特征浓度值的吸光度小于预设范围，则提高灵敏度；若所述特征浓度值的吸光度大于预设范围，则降低灵敏度。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若最高段吸光度差和浓度差的比值与最低段吸光度差和浓度差的比值小于预设范围，则提高灵敏度；若最高段吸光度差和浓度差的比值与最低段吸光度差和浓度差的比值大于预设范围，则降低灵敏度。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述降低灵敏度的方法包括：

检测光路通过基础孔洞时，旋转燃烧头角度，每次顺时针旋转5～10℃，直至达到预设范围。

7.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述提高灵敏度的方法包括：

检测光路通过标准孔洞的基础上，调整燃烧头高度，每次提高1.0～2.0nm，直至达到预设范围。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，得到校正后的标准曲线后还包括：

对校正后的标准曲线进行检验；

所述检验包括：

检测校正后的标准曲线上的浓度点的2～3次的吸光度的RSD值；

检测校正后的标准曲线的直线线性；

检测校正后的标准曲线的斜率、截距、标准偏差、残差；

检测校正后的标准曲线上的浓度点的吸光度的标准偏差和平均值的比值。