[发明专利]对复合料带的隔膜进行缺陷检测的方法、装置、系统

权利要求书

1.一种对复合料带的隔膜进行缺陷检测的方法，其特征在于，包括：

获取所述复合料带的连续图像；

针对所述复合料带的所述连续图像，从中截取出至少一个图像分片，其中，所述图像分片包括隔膜区；以及

针对所述隔膜区进行检测。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述图像分片还包括被所述隔膜区围绕的极片本体区、多个极耳凸出区以及与所述隔膜区邻接的背景区，所述方法还包括：

从所述图像分片中提取出所述隔膜区。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，从所述图像分片中提取出所述隔膜区，包括：

基于所述背景区的最大灰度阈值，从所述图像分片中去除所述背景区，得到第一中间图像；

从所述第一中间图像中提取出与其边缘相内接的最大矩形区域的图像作为第二中间图像；以及

基于所述极片本体区的最大灰度阈值，从所述第二中间图像中去除呈矩形的所述极片本体区，得到所述隔膜区。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，针对所述隔膜区进行检测，包括：确定所述隔膜区是否包括疑似缺陷区。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，确定所述隔膜区是否包括疑似缺陷区，包括：

响应于确定所述隔膜区包括异常像素集合，基于所述异常像素集合，得到至少一个独立联通的异常像素子集，其中，所述异常像素集合的每个像素的灰度小于所述隔膜区的最小灰度阈值；以及

针对每个所述异常像素子集，响应于确定所述异常像素子集的面积大于面积阈值，确定所述隔膜区包括疑似缺陷区。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，针对所述隔膜区进行检测，包括：

基于所述疑似缺陷区的几何特征信息，确定所述疑似缺陷区对应的疑似缺陷类型，其中，所述疑似缺陷类型包括疑似破损或疑似褶皱。

7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，针对所述隔膜区进行检测，包括：

基于所述疑似缺陷区的图像信息以及隔膜缺陷样本库中的至少一个隔膜缺陷样本的图像信息，确定所述疑似缺陷区的置信度；以及

响应于确定所述置信度大于置信度阈值，确定所述疑似缺陷区为缺陷区。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述复合料带的连续图像，包括：

针对所述复合料带的每一侧表面，获取由线扫相机拍摄的连续图像。

9.如权利要求1至8中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：输出检测结果，其中，

所述检测结果包括以下至少一个：缺陷区在所述图像分片中的定位信息、缺陷区的几何特征信息、所述图像分片对应在所述复合料带上的定位信息、所述隔膜存在缺陷的报警信息，以及缺陷的类型，其中，所述缺陷的类型包括破损或褶皱。

10.一种对复合料带的隔膜进行缺陷检测的装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取所述复合料带的连续图像；

提取单元，用于针对所述复合料带的所述连续图像，从中截取出至少一个图像分片，其中，所述图像分片包括隔膜区；以及

检测单元，用于针对所述隔膜区进行检测。

11.一种电子设备，其特征在于，包括至少一个处理器以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器，其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1至9中任一项所述的方法。