[发明专利]一种多触点高电流高电压测试探针在审

专利信息
申请号: 202210404903.0 申请日: 2022-04-18
公开(公告)号: CN114814314A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 刘权;张海洋;刘伟;吕文波 申请(专利权)人: 苏州伊欧陆系统集成有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073
代理公司: 苏州佳捷天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 32516 代理人: 魏孝廉
地址: 215000 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 触点 电流 电压 测试 探针
【权利要求书】:

1.一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:包括针板,所述针板前端设置有若干针脚,所述针板中间设置有多个限位孔和安装孔;所述多触点高电流高电压测试探针表面整体镀金处理形成覆金层。

2.如权利要求1所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述针板为矩形针板或矩形加梯形针板。

3.如权利要求1所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述测试探针采用钨或铼钨探针,并在其表面整体镀金处理。

4.如权利要求1所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述针脚数量最多设置有十二只针脚。

5.如权利要求1所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述针脚宽度小于250μm。

6.如权利要求1-5任一权利要求所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述针脚包括针杆和针尖,所述针尖前下端为测试接触区域,所述测试接触区域抛光处理,所述测试接触区域的表面粒径小于0.5μm。

7.如权利要求6所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述测试区域的长度小于250μm,其宽度小于150μm。

8.如权利要求6所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述测试探针的厚度小于450μm。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州伊欧陆系统集成有限公司,未经苏州伊欧陆系统集成有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210404903.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top