[发明专利]一种多触点高电流高电压测试探针在审
申请号: | 202210404903.0 | 申请日: | 2022-04-18 |
公开(公告)号: | CN114814314A | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 刘权;张海洋;刘伟;吕文波 | 申请(专利权)人: | 苏州伊欧陆系统集成有限公司 |
主分类号: | G01R1/073 | 分类号: | G01R1/073 |
代理公司: | 苏州佳捷天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 32516 | 代理人: | 魏孝廉 |
地址: | 215000 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 触点 电流 电压 测试 探针 | ||
1.一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:包括针板,所述针板前端设置有若干针脚,所述针板中间设置有多个限位孔和安装孔;所述多触点高电流高电压测试探针表面整体镀金处理形成覆金层。
2.如权利要求1所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述针板为矩形针板或矩形加梯形针板。
3.如权利要求1所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述测试探针采用钨或铼钨探针,并在其表面整体镀金处理。
4.如权利要求1所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述针脚数量最多设置有十二只针脚。
5.如权利要求1所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述针脚宽度小于250μm。
6.如权利要求1-5任一权利要求所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述针脚包括针杆和针尖,所述针尖前下端为测试接触区域,所述测试接触区域抛光处理,所述测试接触区域的表面粒径小于0.5μm。
7.如权利要求6所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述测试区域的长度小于250μm,其宽度小于150μm。
8.如权利要求6所述的一种多触点高电流高电压测试探针,其特征在于:所述测试探针的厚度小于450μm。
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