[发明专利]钛铝合金微观组织定量中误标相去除方法

权利要求书

1.一种钛铝合金微观组织定量中误标相去除方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、用线切割切取钛铝合金试样，依次采用180#、240#、400#、600#、800#、1000#、1200#、1500#的SiC水砂纸，分别对所述钛铝合金试样待测表面逐级打磨，并抛光去除所述钛铝合金试样待测表面应力变形层；

步骤二、将所述钛铝合金试样用导电胶带固定在65～75°预倾样品台，设置电子显微镜的倾转补偿角为65～75°，以所述钛铝合金试样待测表面区域为扫描区域，以不超过所述钛铝合金试样平均晶粒尺寸的1/5～1/10长度为扫描步长，并根据所述钛铝合金α相、β相和γ相晶体结构，进行EBSD扫描，得到所述钛铝合金试样的EBSD相图；

步骤三、识别去除所述钛铝合金试样的EBSD相图中的噪点和奇异点；所述的噪点为所述钛铝合金α相、β相和γ相晶体结构外无法识别的数据点；所述的奇异点为所述钛铝合金α相、β相和γ相晶体结构数据点中与周围数据点不同且没有特定取向的点；

步骤四、对步骤三处理后的钛铝合金试样的EBSD相图进行标定，将所述的α相、β相和γ相晶体结构划分为α晶粒、β晶粒和γ晶粒，并测量尺寸为0.3～0.5μm的α晶粒或β晶粒或γ晶粒，且所述的α晶粒的〈0001〉晶向轴与相邻晶粒晶体结构中的〈0001〉晶向轴的夹角为30±5°，或β晶粒的〈111〉晶向轴与相邻晶粒晶体结构中的〈111〉晶向轴的夹角为30±5°，或γ晶粒的〈100〉晶向轴与相邻晶粒晶体结构中的〈100〉晶向轴的夹角为90±5°，即判断所述的α晶粒或β晶粒或γ晶粒为误标晶粒，去除误标晶粒即为去除了所述α相、β相和γ相晶体结构的误标相，得到了去除误标相的EBSD扫描微观组织图；

步骤五、在所述去除误标相的EBSD扫描微观组织图上重复至少一次所述的步骤三，获得了用于对所述钛铝合金进行定量分析的EBSD扫描微观组织图。

2.如权利要求1所述的钛铝合金微观组织定量中误标相去除方法，其特征在于，所述的钛铝合金为钛铝合金挤压棒材，钛铝合金挤压棒材的元素原子百分比为：Ti-(46～47)Al-(2～3)Nb-(2～3)Cr，由所述钛铝合金挤压棒材上线切割切取的钛铝合金试样为Φ8mm×12mm的圆柱形钛铝合金挤压棒材试样。

3.如权利要求1所述的钛铝合金微观组织定量中误标相去除方法，其特征在于，所述的钛铝合金为热模拟压缩变形后的钛铝合金，钛铝合金的元素原子百分比为：Ti-(46～47)Al-(2～3)Nb-(2～3)Cr。

4.如权利要求1所述的钛铝合金微观组织定量中误标相去除方法，其特征在于，所述的钛铝合金为热处理后的钛铝合金，钛铝合金的元素原子百分比为：Ti-(46～47)Al-(2～3)Nb-(2～3)Cr。

5.如权利要求1所述的钛铝合金微观组织定量中误标相去除方法，其特征在于，所述的抛光为电解抛光，电解抛光的抛光液是由高氯酸、甲醇、正丁醇组成，体积分数比为高氯酸：甲醇：正丁醇＝3:32:15，操作电压为20～25V，电解抛光时间为30～40s。

6.如权利要求5所述的钛铝合金微观组织定量中误标相去除方法，其特征在于，所述的电解抛光步骤是在lectropol-5电解腐蚀仪中进行。

7.如权利要求1所述的钛铝合金微观组织定量中误标相去除方法，其特征在于，所述的抛光是在振动抛光机中进行的振动抛光，振动抛光的抛光液为二氧化硅抛光液，振幅为30％～60％，振动抛光时间为6～8h。

8.如权利要求1-7任一所述钛铝合金微观组织定量中误标相去除方法，其特征在于，步骤二中所述的EBSD扫描的相图解析率高于80％。