[发明专利]一种半导体测试治具

说明书

本发明公开了一种半导体测试治具，包括基座，基座的下侧设置有垫块，所述垫块上设置有装夹孔，基座的下侧铰接有固定板，所述固定板上设置有限位孔，所述基座的侧部装配有所述固定板卡装配合的挂钩，所述固定板的下方设置有夹具体。该半导体测试治具，解决了现有半导体测试难度大、效率低，难以实现大规模工厂作业的问题。

技术领域

本发明属于半导体检测技术领域，具体涉及一种半导体测试治具。

背景技术

半导体测试探针是一种应用非常广泛的微型链接器，广泛应用于医疗、微电子、光电类等领域。

由于现有半导体测试的操作难度大，效率低，难以实现大规模测试、筛选，因此在实际的作业中难以降低测试过程的人工成本。故而，如何实现快速、大规模测试及筛选将变得非常迫切和重要。

发明内容

本发明的目的是提供一种半导体测试治具，解决现有半导体测试难度大、效率低，难以实现大规模工厂作业的问题。

为了达到上述目的，本发明所采用的第一种技术方案是：一种半导体测试治具，包括基座，基座的下侧设置有垫块，所述垫块上设置有装夹孔，基座的下侧铰接有固定板，所述固定板上设置有限位孔，所述基座的侧部装配有所述固定板卡装配合的挂钩，所述固定板的下方设置有夹具体。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述挂钩铰接在基座的侧部，挂钩的上侧通过弹簧连接在基座侧部。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述基座的侧部设置有第一销轴，所述挂钩套设在所述第一销轴上。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述基座的下侧设置有第二销轴，所述固定板套设在所述第二销轴上。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述基座的上侧设置有旋转盖。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述基座的上侧设置有外螺纹连接头，所述旋转盖螺纹装配在外螺纹连接头上。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述基座的上侧设置有限位销钉，所述限位销钉位于外螺纹连接头的外侧。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述限位销钉的数量为二，且呈180°相对布置在外螺纹连接头的两侧。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述夹具体包含基板，所述基板上设置有夹具座，所述夹具座内设置有夹具承座，所述夹具承座内设置有安装槽。

作为本发明的一种优选的技术方案，所述夹具整座上设置有多个凹槽，所述凹槽与所述安装槽相通且位于安装槽的一侧。

本发明的有益效果是：本发明使用的半导体测试治具，可以对被测试对象和测试仪器进行分别装夹定位，使其能够快速完成精准对位接触，进而实现相关的试验检测，大大提高了生产效率，降低了操作难度，具有较好的市场推广使用前景。

附图说明

此处说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明的一种半导体测试治具的结构示意图；

图2为本发明的一种半导体测试治具的局部分解图；

图3是本发明的一种半导体测试治具中夹具体的结构示意图。

图中：1.基座，2.外螺纹连接头，3.旋转盖，4.限位销钉，5.弹簧，6.挂钩，7.第一销轴，8.基板，9.固定板，10.垫块，11.第二销轴，12.夹具座，13.夹具承座，14.测试仪器，15.被测产品。

具体实施方式