[发明专利]过流检测电路和无线充电装置

权利要求书

1.一种过流检测电路，其特征在于，所述过流检测电路包括：

电位平移电路，用于根据接收到的时序信号生成开关信号；

调节电路，分别与所述电位平移电路、采样电路、待测晶体管电性连接，用于根据所述电位平移电路发送的所述开关信号，调节所述采样电路的端电压与所述待测晶体管的端电压保持一致；

所述采样电路与全桥电路中的所述待测晶体管电性连接，用于在所述采样电路的端电压与所述待测晶体管的端电压保持一致时，采样所述待测晶体管的导通电流，得到采样电流；

比较电路，通过所述调节电路与所述采样电路电性连接，用于基于所述采样电流与参考信号的比较结果生成过流检测信号。

2.根据权利要求1所述的过流检测电路，其特征在于，所述采样电路包括隔离电路和采样晶体管，所述隔离电路分别与所述待测晶体管的栅端、所述采样晶体管的栅端电性连；所述采样晶体管的漏端分别与所述待测晶体管的漏端、供电端口电性连接，所述采样晶体管的源端与所述调节电路电性连接；

所述隔离电路用于在检测到驱动信号时短接所述待测晶体管的栅端与所述采样晶体管的栅端，在检测到截止信号时隔离开所述待测晶体管的栅端与所述采样晶体管的栅端；

所述采样晶体管用于在采样所述待测晶体管的导通电流，得到所述采样电流。

3.根据权利要求2所述的过流检测电路，其特征在于，所述隔离电路包括第一隔离晶体管和第二隔离晶体管，所述第一隔离晶体管的漏端与所述待测晶体管的栅端电性连接，所述第一隔离晶体管的栅端与所述采样晶体管的源端电性连接，所述第一隔离晶体管的源端与所述采样晶体管的栅端电性连接；

所述第二隔离晶体管的栅端、源端均与所述采样晶体管的栅端电性连接，所述第二隔离晶体管的漏端与所述采样晶体管的源端电性连接。

4.根据权利要求3所述的过流检测电路，其特征在于，所述调节电路包括电性连接的反馈电路和时序控制电路，所述时序控制电路分别与所述电位平移电路、所述待测晶体管电性连接，用于根据所述开关信号控制所述反馈电路与所述待测晶体管之间的通断状态；

所述反馈电路分别与所述时序控制电路、所述采样晶体管电性连接，用于基于与所述待测晶体管之间的通断状态，调节所述采样晶体管的端电压与所述待测晶体管的端电压保持一致。

5.根据权利要求4所述的过流检测电路，其特征在于，所述反馈电路包括运算放大器和比例调节电路，所述运算放大器的正输入端与所述时序控制电路电性连接，所述运算放大器的负输入端与所述采样晶体管的源端电性连接，所述运算放大器的输出端与所述比例调节电路电性连接；

所述比例调节电路分别与所述比较电路、所述采样晶体管的源端电性连接。

6.根据权利要求5所述的过流检测电路，其特征在于，所述时序控制电路包括第一开关晶体管、第二开关晶体管和第三开关晶体管，所述第一开关晶体管的源端分别与所述运算放大器的正输入端、所述第三开关晶体管的漏端电性连接，所述第一开关晶体管的栅端与所述电位平移电路电性连接，所述第一开关晶体管的漏端与所述待测晶体管的源端电性连接；

所述第二开关晶体管的栅端分别与所述电位平移电路、所述第三开关晶体管的栅端电性连接，所述第二开关晶体管的源端分别与所述供电端口、所述第三开关晶体管的源端电性连接，所述第二开关晶体管的漏端与所述运算放大器的负输入端电性连接。

7.根据权利要求5所述的过流检测电路，其特征在于，所述比例调节电路包括第一调节晶体管以及多个与所述第一调节晶体管并联的第二调节晶体管，所述第一调节晶体管的栅端分别与所述运算放大器的输出端、所述第二调节晶体管的栅端电性连接，所述第一调节晶体管的源端分别与所述采样晶体管的源端、所述第二调节晶体管的源端电性连接，所述第一调节晶体管的漏端与所述比较电路电性连接，所述第二调节晶体管的漏端接地。