[发明专利]平行路检测方法、装置以及电子设备

说明书

本公开提供了一种平行路检测方法、装置以及电子设备，涉及地图技术领域，尤其涉及数据挖掘领域。具体实现方案为：获取目标主路通行方向对应的几何表示线和目标轨迹，目标轨迹为经过几何表示线的轨迹；根据几何表示线和目标轨迹，生成轨迹栅格图，轨迹栅格图中的各个栅格标记有经过目标轨迹的条数；从几何表示线选取多个探测点，并生成多个探测点对应的多条探测线；将多条探测线映射入轨迹栅格图，得到目标栅格图，并从目标栅格图中提取多条探测线的像素特征，多条探测线的像素特征分别采用经过对应探测线上栅格的目标轨迹的条数表征；基于多条探测线的像素特征，确定目标检测结果，目标检测结果用于表征是否存在目标主路的平行路。

技术领域

本公开涉及地图技术领域，尤其涉及数据挖掘领域，具体涉及一种平行路检测方法、装置以及电子设备。

背景技术

在相关技术中，一种是采用采集车对城市进行全覆盖采集，再根据采集车的轨迹数据进行提取制图的方式实现平行路的挖掘，但该方法存在采集成本高，效率低，无法及时补充新增平行路的问题。另一种是由用户上报新增的平行路，但上述方法存在召回率低，无法规模化的问题。

发明内容

本公开提供了一种用于平行路检测的方法、装置、设备以及存储介质。

根据本公开的一方面，提供了一种平行路检测方法，包括：获取目标主路通行方向对应的几何表示线和目标轨迹，其中，所述目标轨迹为经过所述几何表示线的轨迹；根据所述几何表示线和所述目标轨迹，生成轨迹栅格图，其中，所述轨迹栅格图中的各个栅格标记有经过目标轨迹的条数；从所述几何表示线选取多个探测点，并生成所述多个探测点对应的多条探测线；将所述多条探测线映射入所述轨迹栅格图，得到目标栅格图，并从所述目标栅格图中提取所述多条探测线的像素特征，其中，所述多条探测线的像素特征分别采用经过对应探测线上栅格的目标轨迹的条数表征；基于所述多条探测线的像素特征，确定目标检测结果，其中，所述目标检测结果用于表征是否存在所述目标主路的平行路。

可选地，所述根据所述几何表示线和所述目标轨迹，生成轨迹栅格图，包括：以所述几何表示线为中心线，生成预定宽度的初始栅格图；分别获取经过所述初始栅格图中各个栅格的目标轨迹的条数；将经过所述初始栅格图中各个栅格的目标轨迹的条数标记到对应的栅格中，得到所述轨迹栅格图。

可选地，所述从所述几何表示线选取多个探测点，并生成所述多个探测点对应的多条探测线，包括：在所述几何表示线上基于预定间隔选取多个探测点；分别以所述多个探测点为中心，生成垂直于所述几何表示线与所述多个探测点对应的预定长度的多条探测线。

可选地，所述基于所述多条探测线的像素特征，确定目标检测结果，包括：分别基于所述多条探测线的像素特征，确定所述多条探测线的像素主峰和像素次峰；基于所述多条探测线的像素主峰和像素次峰，分别确定所述多条探测线对应探测点的平行路特征结果，其中，所述平行路特征结果用于标识对应探测点是否具备平行路特征；基于所述多条探测线对应探测点的平行路特征结果，确定所述目标检测结果。

可选地，所述分别基于所述多条探测线的像素特征，确定所述多条探测线的像素主峰和像素次峰，包括：分别确定所述多条探测线上对应探测点的像素特征为对应探测线的像素主峰；分别对所述多条探测线上对应的像素主峰右侧的像素特征进行聚类，得到对应探测线的多个候选次峰；分别从对应探测线的多个候选次峰中选择像素特征最大的候选次峰为所述像素次峰。