[发明专利]平行路检测方法、装置以及电子设备

权利要求书

1.一种平行路检测的方法，包括：

获取目标主路通行方向对应的几何表示线和目标轨迹，其中，所述目标轨迹为经过所述几何表示线的轨迹；

根据所述几何表示线和所述目标轨迹，生成轨迹栅格图，其中，所述轨迹栅格图中的各个栅格标记有经过目标轨迹的条数；

从所述几何表示线选取多个探测点，并生成所述多个探测点对应的多条探测线；

将所述多条探测线映射入所述轨迹栅格图，得到目标栅格图，并从所述目标栅格图中提取所述多条探测线的像素特征，其中，所述多条探测线的像素特征分别采用经过对应探测线上栅格的目标轨迹的条数表征；

基于所述多条探测线的像素特征，确定目标检测结果，其中，所述目标检测结果用于表征是否存在所述目标主路的平行路。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述几何表示线和所述目标轨迹，生成轨迹栅格图，包括：

以所述几何表示线为中心线，生成预定宽度的初始栅格图；

分别获取经过所述初始栅格图中各个栅格的目标轨迹的条数；

将经过所述初始栅格图中各个栅格的目标轨迹的条数标记到对应的栅格中，得到所述轨迹栅格图。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述从所述几何表示线选取多个探测点，并生成所述多个探测点对应的多条探测线，包括：

在所述几何表示线上基于预定间隔选取多个探测点；

分别以所述多个探测点为中心，生成垂直于所述几何表示线与所述多个探测点对应的预定长度的多条探测线。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基于所述多条探测线的像素特征，确定目标检测结果，包括：

分别基于所述多条探测线的像素特征，确定所述多条探测线的像素主峰和像素次峰；

基于所述多条探测线的像素主峰和像素次峰，分别确定所述多条探测线对应探测点的平行路特征结果，其中，所述平行路特征结果用于标识对应探测点是否具备平行路特征；

基于所述多条探测线对应探测点的平行路特征结果，确定所述目标检测结果。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述分别基于所述多条探测线的像素特征，确定所述多条探测线的像素主峰和像素次峰，包括：

分别确定所述多条探测线上对应探测点的像素特征为对应探测线的像素主峰；

分别对所述多条探测线上对应的像素主峰右侧的像素特征进行聚类，得到对应探测线的多个候选次峰；

分别从对应探测线的多个候选次峰中选择像素特征最大的候选次峰为所述像素次峰。

6.根据权利要求4所述的方法，其中，所述基于所述多条探测线的像素主峰和像素次峰，分别确定所述多条探测线对应探测点的平行路特征结果，包括：

对所述几何表示线上选取的多个探测点进行增序编号；

分别对所述多条探测线上对应的像素主峰右侧的像素特征进行聚类，得到对应探测线的多个候选次峰，并对所述多个候选次峰从所述探测点开始进行增序编号；

针对所述多条探测线中目标探测线对应的目标探测点，获取所述目标探测线上像素主峰的第一序号，以及在所述通行方向上在所述目标探测线的上一探测线上像素主峰的第二序号；获取所述目标探测线上的像素次峰的第三序号，以及在所述通行方向上在所述目标探测线的上一探测线上的像素次峰的第四序号；

检测所述第一序号与所述第二序号之间的差值是否小于第一差值阈值，以及检测所述第三序号与所述第四序号之间的差值是否小于第二差值阈值；

在检测结果为所述第一序号与所述第二序号之间的差值小于所述第一差值阈值，以及所述第三序号与所述第四序号之间的差值小于所述第二差值阈值的情况下，确定所述目标探测点具备平行路特征。

7.根据权利要求4所述的方法，其中，所述基于所述多条探测线对应探测点的平行路特征结果，确定所述目标检测结果，包括：

基于所述多条探测线对应探测点的平行路特征结果，统计所述几何表示线上连续具备平行路特征的探测点的个数；

检测所述个数是否达到预定阈值；

在检测结果为所述个数达到所述预定阈值的情况下，确定所述目标检测结果为存在所述目标主路的平行路。