[发明专利]λ/4板的缺陷检查方法

说明书

本发明提供能够以良好的灵敏度检查λ/4板的缺陷的缺陷方法。本发明的λ/4板的缺陷检查方法包括：依次配置第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板、以及第二起偏器，使得该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴成为平行，该第一λ/4板的慢轴与该第二λ/4板的慢轴成为平行，该第一起偏器的吸收轴与第一λ/4板的慢轴所成的角成为35°～55°，并且该第一起偏器的吸收轴与第二λ/4板的慢轴所成的角成为35°～55°；以及使光从第一起偏器侧的面入射，并观察第二起偏器侧的面的外观。

技术领域

本发明涉及λ/4板的缺陷检查方法。

背景技术

在液晶显示装置(LCD)、有机电致发光显示装置(OLED)等图像显示装置中，出于显示特性的提高、防反射等目的，经常使用相位差膜。在相位差膜的制造工序中，有时会产生由局部的外观不良导致的缺陷，需求能够以良好的灵敏度检查该缺陷的方法。特别是相位差膜由液晶材料构成的λ/4板容易产生通过现有的方法无法检测出的程度的轻微缺陷，需求也能够检测这样的缺陷的检查方法。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2013-15766号公报

发明内容

发明所要解决的问题

本发明为了解决上述问题而完成，其目的在于，提供能够以良好的灵敏度检查λ/4板的缺陷的缺陷检查方法。

用于解决问题的手段

本发明的λ/4板的缺陷检查方法包括：依次配置第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板、以及第二起偏器，使得该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴成为平行，该第一λ/4板的慢轴与该第二λ/4板的慢轴成为平行，该第一起偏器的吸收轴与第一λ/4板的慢轴所成的角成为35°～55°，并且该第一起偏器的吸收轴与第二λ/4板的慢轴所成的角成为35°～55°；以及使光从第一起偏器侧的面入射，并观察第二起偏器侧的面的外观。

在一个实施方式中，上述第一λ/4板或上述第二λ/4板由液晶材料构成。

在一个实施方式中，上述第二λ/4板由液晶材料构成，上述第一λ/4板为高分子膜的拉伸膜。

在一个实施方式中，上述第一λ/4板由液晶材料构成，包含该第一λ/4板和配置于该第一λ/4板的上述第一起偏器侧的面的各向同性基材的层叠体A成为检查对象，该各向同性基材在第一λ/4板21侧的面具有取向层。

在一个实施方式中，上述第一λ/4板由液晶材料构成，包含上述第一起偏器和该第一λ/4板的光学层叠体B成为检查对象。

在一个实施方式中，上述第二起偏器的光透射率为42％以上。

发明效果

根据本发明，可以提供能够以良好的灵敏度检查包含λ/4板的光学层叠体的缺陷的缺陷方法。

附图说明

图1是对本发明的一个实施方式的检查方法进行说明的剖面示意图。

图2是示出在由液晶材料构成的λ/4板产生的缺陷的例子的剖面示意图。

图3是对本发明的另一个实施方式的检查方法进行说明的剖面示意图。

图4是对本发明的另一个实施方式的检查方法进行说明的剖面示意图。

图5是对本发明的另一个实施方式的检查方法进行说明的剖面示意图。

图6是实施例1～3及比较例1～3中的观察图像。

符号说明

11 第一起偏器

12 第二起偏器