[发明专利]λ/4板的缺陷检查方法

权利要求书

1.一种λ/4板的缺陷检查方法，其包括：

依次配置第一起偏器、第一λ/4板、第二λ/4板、以及第二起偏器，使得该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴成为平行，该第一λ/4板的慢轴与该第二λ/4板的慢轴成为平行，该第一起偏器的吸收轴与第一λ/4板的慢轴所成的角成为35°～55°，并且该第一起偏器的吸收轴与第二λ/4板的慢轴所成的角成为35°～55°；以及

使光从第一起偏器侧的面入射，并观察第二起偏器侧的面的外观。

2.根据权利要求1所述的λ/4板的缺陷检查方法，其中，

所述第一λ/4板或所述第二λ/4板由液晶材料构成。

3.根据权利要求1所述的λ/4板的缺陷检查方法，其中，

所述第二λ/4板由液晶材料构成，所述第一λ/4板为高分子膜的拉伸膜。

4.根据权利要求1所述的λ/4板的缺陷检查方法，其中，

所述第一λ/4板由液晶材料构成，

包含该第一λ/4板和配置于该第一λ/4板的所述第一起偏器侧的面的各向同性基材的层叠体A成为检查对象，该各向同性基材在第一λ/4板21侧的面具有取向层。

5.根据权利要求1所述的λ/4板的缺陷检查方法，其中，

所述第一λ/4板由液晶材料构成，

包含所述第一起偏器和该第一λ/4板的光学层叠体B成为检查对象。

6.根据权利要求1～5中任一项所述的λ/4板的缺陷检查方法，其中，

所述第二起偏器的光透射率为42％以上。