[发明专利]具有温控功能的SSD硬盘测试装置以及测试方法

说明书

本发明涉及一种具有温控功能的SSD硬盘测试装置和测试方法，测试装置包括：测试模块、散热模块和主机模块，主机模块具有测试程序、监测程序和温度调控程序，测试模块上设置有多个测试接口，测试接口用于连接待测试的多个SSD固态硬盘和主机模块；主机模块的测试程序用于通过测试接口对SSD固态硬盘进行测试；散热模块设置在测试模块的内部，与测试模块连接；监测程序用于按照预设时间间隔在测试过程中获取监测数据，并将监测数据发送至温度调控程序；主机模块的温度调控程序用于在接收到监测数据时，生成散热指令，将散热指令发送至测试模块，以使测试模块对散热模块的散热速度进行调节。本发明具有成本低、体积小、可精准调节盘温的优点。

技术领域

本发明涉及SSD硬盘测试技术领域，尤其是涉及一种具有温控功能的SSD硬盘测试装置以及测试方法。

背景技术

固态硬盘SSD的工作性能、稳定性与环境温度、盘内NAND的温度相关。无论是在SSD产品验证测试阶段还是工厂生产测试阶段都有许多场景，需要控制环境温度进而实现控制NAND在一定温度下进行测试的设定， 如RDT、ORT、Aging老化测试、IO压力测试等，大部分都需要有一个恒温高温的外部环境。

目前主要是通过温箱或温室来提供恒温高温的测试环境。通过温箱或温室来提供恒温高温的测试环境，虽然可以基本实现恒温测试环境的温度需求，但同时存在以下问题：温箱一般需要有保温层、加热装置、降温装置、均温装置等，所占空间较大，难以灵活配置，和集成到服务器机架进行测试。而且如果温箱腔体过大，恒温及均温效果并不好。如果温箱腔体过小，盘测试的单位成本过高。而单纯的监测环境温度实现恒温的方式，又无法精确控制SSD盘NAND温度在特定范围，也无法完全避免SSD盘自身NAND过温问题。

发明内容

为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本发明提供了一种具有温控功能的SSD硬盘测试装置以及测试方法。

第一方面，本发明实施例提供一种具有温控功能的SSD硬盘测试装置,包括：

测试模块、散热模块和主机模块，所述主机模块中具有测试程序、温度调控程序和监测程序，其中：

所述测试模块上设置有多个测试接口，所述测试接口用于连接待测试的多个SSD固态硬盘和所述主机模块；所述主机模块中的所述测试程序用于通过所述测试接口对所述SSD固态硬盘进行测试；其中，所述SSD固态硬盘在测试过程中自发热使得所述测试模块形成高温测试环境；所述散热模块设置在所述测试模块的内部，且与所述测试模块连接；

所述主机模块中的监测程序用于：按照预设时间间隔在所述SSD固态硬盘的测试过程中获取监测数据，并将所述监测数据发送至所述主机模块中的温度调控程序；所述监测数据包括SSD固态硬盘的盘温、测试模式和功耗数据；

所述主机模块中的温度调控程序用于：根据所述监测数据和目标温度，生成散热指令，并将所述散热指令发送至所述测试模块，以使所述测试模块对所述散热模块的散热速度进行调节。

第二方面，本发明实施例提供一种SSD硬盘的测试方法，所述方法基于第一方面提供的测试装置实现，所述方法包括：

所述主机模块中的所述测试程序通过所述测试接口对所述SSD固态硬盘进行测试；

在测试过程中，所述主机模块中的所述监测程序按照预设时间间隔获取监测数据，并将所述监测数据发送至所述主机模块中的温度调控程序；所述监测数据包括SSD固态硬盘的盘温、测试模式和功耗数据；

所述主机模块中的温度调控程序根据所述监测数据和目标温度，生成散热指令，并将所述散热指令发送至所述测试模块；

所述测试模块对所述散热模块的散热速度进行调节。