[发明专利]具有温控功能的SSD硬盘测试装置以及测试方法

权利要求书

1.一种具有温控功能的SSD硬盘测试装置，其特征在于，包括：测试模块、散热模块和主机模块，所述主机模块中具有测试程序、温度调控程序和监测程序，其中：

所述测试模块上设置有多个测试接口，所述测试接口用于连接待测试的多个SSD固态硬盘和所述主机模块；所述主机模块中的所述测试程序用于通过所述测试接口对所述SSD固态硬盘进行测试；其中，所述SSD固态硬盘在测试过程中自发热使得所述测试模块形成高温测试环境；所述散热模块设置在所述测试模块的内部，且与所述测试模块连接；

所述主机模块中的监测程序用于：按照预设时间间隔在所述SSD固态硬盘的测试过程中获取监测数据，并将所述监测数据发送至所述主机模块中的温度调控程序；所述监测数据包括SSD固态硬盘的盘温、测试模式和功耗数据；

所述主机模块中的温度调控程序用于：根据所述监测数据和目标温度，生成散热指令，并将所述散热指令发送至所述测试模块，以使所述测试模块对所述散热模块的散热速度进行调节。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试模块包括多个测试单元，每一个测试单元包括一个一面具有开口的立方体外壳和一个设置在所述立方体外壳内部的PCB板，所述PCB板连接所述主机模块；

对应的，所述监测程序具体用于：通过所述PCB板获取所述监测数据；所述主机模块中的温度调控程序具体用于：将所述散热指令发送至所述测试模块中的PCB板。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述多个测试接口设置在所述PCB板上；所述立方体外壳的开口侧设置有多个滑道，以使所述SSD固态硬盘沿着所述滑道进行插入，被插入的SSD固态硬盘与一一对应的测试接口呈接触状态；所述PCB板上具有固件程序，所述固件程序用于对插入的所述SSD固态硬盘进行上下电控制。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述散热模块包括设置在每一个测试单元的立方体外壳内部的风扇，所述风扇与所述PCB板连接；对应的，所述固件程序还用于根据所述散热指令对所述风扇的转速进行无级调节，以实现对所述散热模块的散热速度的调节。

5.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述SSD固态硬盘内置有温度传感器，所述温度传感器检测到的温度为盘温。

6.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述PCB板上具有镂空部分，所述镂空部分为所述立方体外壳的散热通道。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，每一个测试单元中还包括一个风速传感器，所述风速传感器设置在对应的PCB板的镂空部分，所述风速传感器用于检测对应测试单元的风速；

对应的，所述PCB板还用于：将所述风速传感器检测到的风速发送至所述主机模块，以使所述主机模块中的风速控制程序判断对所述散热模块的散热速度调节是否有效。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

所述主机模块的测试程序还用于：在测试过程中在切换测试模式时通知所述风速控制程序；

对应的，所述风速控制程序还用于：在接收到所述测试程序发送来的模式切换通知时，通过所述监测程序获取所述监测数据；根据所述监测数据和目标温度，生成散热指令；将所述散热指令发送至所述测试模块，以使所述测试模块对所述散热模块的散热速度进行调节。

9.一种SSD硬盘的测试方法，其特征在于，所述方法基于权利要求1~8任一项所述的测试装置实现，所述方法包括：

所述主机模块中的所述测试程序通过所述测试接口对所述SSD固态硬盘进行测试；

在测试过程中，所述主机模块中的所述监测程序按照预设时间间隔获取监测数据，并将所述监测数据发送至所述主机模块中的温度调控程序；所述监测数据包括SSD固态硬盘的盘温、测试模式和功耗数据；

所述主机模块中的温度调控程序根据所述监测数据和目标温度，生成散热指令，并将所述散热指令发送至所述测试模块；

所述测试模块对所述散热模块的散热速度进行调节。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，还包括：

在测试过程中切换测试模式时，所述测试程序通知所述风速控制程序；

所述风速控制程序在接收到所述测试程序发送来的模式切换通知时，通过所述监测程序获取所述监测数据；根据所述监测数据和目标温度，生成散热指令；将所述散热指令发送至所述测试模块，以使所述测试模块对所述散热模块的散热速度进行调节。