[发明专利]缺陷检测方法及其装置、存储介质、程序产品

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取待处理图像；

根据所述待处理图像计算得到所述待处理图像的灰度梯度幅值图像；

根据所述待处理图像计算得到所述待处理图像的亮度校正图像；

将所述待处理图像、所述灰度梯度幅值图像和所述亮度校正图像合并成三通道图像；

对所述三通道图像进行缺陷检测处理得到第一缺陷图像。

2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述待处理图像的数量为多个，所述获取待处理图像，包括：

获取目标图像；

对所述目标图像进行图像增强处理，得到增强图像；

对所述目标图像和所述增强图像分别进行多尺度转换处理，得到多个所述待处理图像。

3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述待处理图像、所述灰度梯度幅值图像、所述亮度校正图像和所述三通道图像的数量均为多个，所述待处理图像、所述灰度梯度幅值图像、所述亮度校正图像和所述三通道图像之间一一对应；

所述对所述三通道图像进行缺陷检测处理得到第一缺陷图像，包括：

对多个所述三通道图像进行缺陷检测处理，得到多个缺陷标注图像；

将多个所述缺陷标注图像映射到同一尺度，得到多个候选缺陷图像；

对多个所述候选缺陷图像进行非极大值抑制合并处理，得到所述第一缺陷图像。

4.根据权利要求2所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述获取目标图像，包括：

获取第一焊缝图像，所述第一焊缝图像含有焊缝区域；

对所述第一焊缝图像进行焊缝识别处理，得到与所述焊缝区域对应的焊缝掩膜图像；

根据所述焊缝掩膜图像对所述第一焊缝图像中的所述焊缝区域进行截图处理，得到所述目标图像。

5.根据权利要求4所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述第一缺陷图像中标记有缺陷位置；所述对所述三通道图像进行缺陷检测处理得到第一缺陷图像之后，所述缺陷检测方法还包括：

根据所述焊缝掩膜图像在所述第一缺陷图像中确定目标缺陷区域；

删除所述第一缺陷图像中的目标缺陷位置得到第二缺陷图像，其中，所述目标缺陷位置为所述第一缺陷图像中处于所述目标缺陷区域之外的缺陷位置。

6.根据权利要求5所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述第一焊缝图像的数量为多个，所述获取第一焊缝图像，包括：

接收第二焊缝图像；

获取所述第二焊缝图像的第一长度信息；

当所述第一长度信息大于第一预设长度阈值，对所述第二焊缝图像进行分割处理得到多个所述第一焊缝图像。

7.根据权利要求6所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述第二焊缝图像进行分割处理得到多个所述第一焊缝图像，包括：

获取分割长度阈值、分割宽度阈值、交叠比例值和所述第二焊缝图像的第一宽度信息；

根据所述分割长度阈值、所述分割宽度阈值、所述交叠比例值、所述第一长度信息和所述第一宽度信息，计算得到分割坐标信息；

根据所述分割坐标信息对所述第二焊缝图像进行分割处理，得到多个所述第一焊缝图像。

8.根据权利要求6所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述删除所述第一缺陷图像中的目标缺陷位置得到第二缺陷图像之后，所述缺陷检测方法还包括：

获取所述第二缺陷图像中的缺陷位置的目标坐标信息；

将所述目标坐标信息映射到所述第二焊缝图像，得到目标缺陷图像。

9.根据权利要求4所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述焊缝掩膜图像对所述第一焊缝图像中的所述焊缝区域进行截图处理，得到所述目标图像，包括：

获取所述焊缝掩膜图像的第一边界框；

根据所述第一边界框确定所述焊缝掩膜图像的第一掩膜坐标信息；

根据所述第一掩膜坐标信息对所述第一焊缝图像中的所述焊缝区域进行截图处理，得到所述目标图像。