[发明专利]一种低温超导量子干涉器件的特性扫描装置在审
申请号: | 202210198026.6 | 申请日: | 2022-03-02 |
公开(公告)号: | CN114563751A | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 史建新;沈姗姗 | 申请(专利权)人: | 南京工业职业技术大学 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00;G01R33/035 |
代理公司: | 武汉菲翔知识产权代理有限公司 42284 | 代理人: | 张红 |
地址: | 210023 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 低温 超导 量子 干涉 器件 特性 扫描 装置 | ||
1.一种低温超导量子干涉器件的特性扫描装置,包括扫描箱(1),其特征在于:所述扫描箱(1)的两侧分别开设有抽拉槽(2),所述抽拉槽(2)的内腔套设有抽拉板(3),所述抽拉板(3)贯穿扫描箱(1)的内腔,所述抽拉板(3)的两端延伸至扫描箱(1)的两侧且分别固定连接有限位铁板(4),一个所述限位铁板(4)的内侧面与扫描箱(1)的侧面相接触,所述抽拉板(3)的正面开设有两个放置槽(5),所述抽拉板(3)的正面且位于放置槽(5)的两侧分别开设有卡槽(6),所述放置槽(5)的内腔设置有低温超导量子干涉器件本体(7),所述低温超导量子干涉器件本体(7)的两端分别延伸至两个卡槽(6)的内腔,所述抽拉板(3)的内部且位于放置槽(5)的两侧分别开设有压缩槽(29),所述压缩槽(29)的内壁固定连接有弹簧(30),所述弹簧(30)的一端固定连接有铜制插销(9),所述铜制插销(9)的一端延伸至卡槽(6)的内腔且开设有缺口槽(38),所述缺口槽(38)的形状与低温超导量子干涉器件本体(7)两端的形状相适配,所述抽拉板(3)的内部且位于放置槽(5)的背部设置有偏置电压发生单元(27),所述偏置电压发生单元(27)的两端分别固定连接有第三导线(28),所述第三导线(28)的一端延伸至压缩槽(29)的内腔且与铜制插销(9)相连接,所述放置槽(5)的内壁设置有特性曲线检测生成单元(39),所述抽拉板(3)的正面且位于放置槽(5)的两侧分别开设有扳动槽(24),所述抽拉板(3)的内部开设有若干个滑槽(25),所述滑槽(25)连通扳动槽(24)和压缩槽(29)的内腔,所述铜制插销(9)的侧面固定连接有滑柱(31),所述滑柱(31)的一端贯穿滑槽(25)的内腔延伸至扳动槽(24)的内腔且固定连接有扳块(32)。
2.根据权利要求1所述的一种低温超导量子干涉器件的特性扫描装置,其特征在于:所述扫描箱(1)内腔的顶部固定安装有烟雾传感器(15),所述扫描箱(1)的顶部固定连接有净化箱(16),所述净化箱(16)的顶部铰接有密封盖(34),所述净化箱(16)的一侧开设有若干个出气孔(36),所述净化箱(16)的内腔设置有过滤棉(35),所述净化箱(16)的内腔设置有水箱(33),所述水箱(33)的内腔设置有纯净水,所述扫描箱(1)的顶部固定安装有风机(17),所述风机(17)的两端分别固定连接有抽气管(18),一个所述抽气管(18)的一端延伸至扫描箱(1)的内腔且固定连接有抽气罩(19),另一个所述抽气管(18)的一端延伸至水箱(33)内腔的纯净水中。
3.根据权利要求1所述的一种低温超导量子干涉器件的特性扫描装置,其特征在于:所述扫描箱(1)的内壁设置有电压发生器(11),所述电压发生器(11)的一端固定连接有第一导线(12),所述第一导线(12)的一端固定连接有电感线圈(13),所述电感线圈(13)的一端固定连接有第二导线(14),所述第二导线(14)的一端与电压发生器(11)相连接,所述电感线圈(13)位于低温超导量子干涉器件本体(7)的正上方。
4.根据权利要求1所述的一种低温超导量子干涉器件的特性扫描装置,其特征在于:所述扫描箱(1)的底面设置有底座(10),所述扫描箱(1)的正面铰接有密封门(20),所述密封门(20)的正面设置有透明视窗(23),所述密封门(20)的正面固定安装有显示屏(22),所述密封门(20)的正面固定安装有控制面板(21)。
5.根据权利要求1所述的一种低温超导量子干涉器件的特性扫描装置,其特征在于:所述扫描箱(1)的两侧分别设置有磁铁块(8),所述磁铁块(8)的位置与限位铁板(4)的位置相适配。
6.根据权利要求1所述的一种低温超导量子干涉器件的特性扫描装置,其特征在于:两个所述限位铁板(4)的外侧面均固定安装有拉手(26)。
7.根据权利要求1所述的一种低温超导量子干涉器件的特性扫描装置,其特征在于:所述抽拉槽(2)的内壁设置有密封圈(37),所述密封圈(37)的内侧面与抽拉板(3)的外侧面相接触。
8.根据权利要求1所述的一种低温超导量子干涉器件的特性扫描装置,其特征在于:所述卡槽(6)内腔的高度与低温超导量子干涉器件本体(7)两端的高度相适配。
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