[发明专利]缺陷检查方法及缺陷检查装置

说明书

本发明提供一种能够检测出光学特性的不均的缺陷检查方法。所述缺陷检查方法具有：配置工序，依次地并且满足下述的条件a1及条件a2地配置第1滤光片、光学膜、第2滤光片：(a1)所述第1滤光片的第1偏振片的吸收轴与所述被检偏振片的吸收轴所成的角度θ1为90°±5°的范围内，(a2)所述被检偏振片的吸收轴与所述第2滤光片的第2偏振片的吸收轴所成的角度θ2为90°±35°的范围内；检测工序，检测从光源照射、并依次透过所述第1滤光片、所述光学膜以及所述第2滤光片的光；以及判断工序，基于所述检测工序中的检测结果，判断所述光学膜的缺陷。

技术领域

本发明涉及光学膜的缺陷检查方法及缺陷检查装置。

背景技术

液晶显示装置、有机EL显示装置等显示装置中使用的偏振板一般通过将偏振片以2片保护膜夹持而形成。偏振板为了贴合于显示装置，有时在一方的保护膜层叠有粘合剂层，在另一方的保护膜层叠有用于防止流通时在该保护膜的表面等产生伤痕等的防护膜。在粘合剂层通常层叠有剥离膜。作为偏振片的具体例，可以举出在经过单轴拉伸的聚乙烯醇系(PVA系)树脂膜吸附有碘、二色性染料等二色性色素并使该二色性色素取向了的PVA系偏振膜、由包含聚合性液晶化合物的聚合物和二色性色素的液晶固化层形成的偏振片(以下也称作“液晶偏振片”)等。液晶偏振片通常通过将包含聚合性液晶化合物的组合物涂布于基材膜上并使之固化而形成，有能够制造薄的偏振片的优点。此种PVA系偏振膜、液晶偏振片如后所述，具有使特定的振动面的直线偏振光穿过的作用，被称作“直线偏振片”。另外，在该直线偏振片的一面或两面具有保护膜的偏振板一般被称作“直线偏振板”。

在偏振板、偏振片中有时在其制造阶段产生缺陷。例如，有时产生在偏振片与保护膜之间混入异物、或残留气泡的缺陷。另外，液晶偏振片有时因制造时的涂布不均而在偏振板的光学特性方面产生不均。

因而，在将偏振板装入显示装置前的阶段，进行用于检测偏振板的缺陷的检查。该缺陷的检查如日本特开平9-229817号公报(专利文献1)中所示，在作为被检物的偏振板与光源之间设置偏振滤光片后，使该偏振板或偏振滤光片沿平面方向旋转，将它们的各自的偏振轴方向设为特定的关系。在偏振轴方向之间相互正交的情况下(即形成正交尼科尔棱镜的配置的情况下)，穿过偏振滤光片的直线偏振光不透过偏振板。然而，若在偏振板中存在缺陷，则在该部位直线偏振光就会透过，因此该光被检测到，从而判明缺陷的存在。

另一方面，在偏振板与偏振滤光片的偏振轴方向之间平行的情况下，穿过偏振滤光片的直线偏振光透过偏振板。然而，若在偏振板中存在缺陷，则在该部位直线偏振光被阻挡，因此无法检测到该光，从而判明缺陷的存在。检查者通过目视检测透过偏振板的光、或者利用组合了CCD照相机和图像处理装置的图像分析处理值自动地检测透过偏振板的光，由此可以进行偏振板的缺陷的有无的检查。

发明内容

发明所要解决的课题

根据专利文献1中记载的方法，虽然能够检测到像异物、气泡的混入那样在光学特性方面与周围的差异大的局部的缺陷，然而难以检测到光学特性的不均。

本发明的目的在于，提供能够检测到光学特性的不均的缺陷检查方法及缺陷检查装置。

本发明提供以下所示的缺陷检查方法及缺陷检查装置。

〔1〕一种缺陷检查方法，是具有被检偏振片的光学膜的缺陷检查方法，

所述缺陷检查方法使用具有第1偏振片的第1滤光片、具有第2偏振片的第2滤光片以及光源，且具有：

配置工序，依次地并且满足下述的条件a1及条件a2地配置所述第1滤光片、所述光学膜以及所述第2滤光片，

(a1)所述第1偏振片的吸收轴与所述被检偏振片的吸收轴所成的角度θ1为90°±5°的范围内，

(a2)所述被检偏振片的吸收轴与所述第2偏振片的吸收轴所成的角度θ2为90°±35°的范围内；