[发明专利]一种基于激光跟踪仪的焙烧机空间精度评价及测量方法

权利要求书

1.一种基于激光跟踪仪的焙烧机空间精度评价及测量方法，其特征在于，基于激光跟踪仪以及轨道测量工装实施焙烧机轨道的轨道测量方法，获取待检轨道的直线度、水平度、上下轨道高差以及两侧轨道跨度；

其中，所述轨道测量工装包括：竖向支架以及轨道卡座，所述轨道卡座设置有分别顶抵在所述焙烧机轨道的顶面和侧面的顶面顶抵部和侧面顶抵部，所述竖向支架设置在所述顶面顶抵部上，所述竖向支架上沿竖向自上而下依次设置有第一靶球和第二靶球；

所述轨道测量方法包括：

通过激光跟踪仪确定第一靶球和第二靶球的测点连线在顶面顶抵部的顶抵面上的交点与侧面顶抵部的顶抵面的偏移距离以及所述第一靶球和所述第二靶球测点坐标与所述交点的坐标的换算关系；

将所述轨道测量工装安置到待检轨道上，且所述顶面顶抵部的顶抵面搁置在所述待检轨道的顶面上，所述侧面顶抵部的顶抵面抵靠在所述待检轨道的侧面上；

沿所述待检轨道调整采样区域，通过激光跟踪仪获取所述第一靶球和所述第二靶球的多组测点坐标；

基于所述多组测点坐标和所述换算关系以及所述偏移距离计算待检轨道的多个外侧面点位坐标；

基于所述多个外侧面点位坐标拟合得到所述待检轨道的姿态表征直线；

基于所述激光跟踪仪的参考系和所述姿态表征直线获取待检轨道的直线度、水平度、上下轨道高差以及两侧轨道跨度。

2.如权利要求1所述的基于激光跟踪仪的焙烧机空间精度评价及测量方法，其特征在于，所述轨道卡座包括：底板和限位立板；

所述限位立板立置在所述底板上的底面上，所述竖向支架设置在所述底板上；

其中，所述顶面顶抵部设置在所述底板的底面上，所述侧面顶抵部设置在所述限位立板的侧面上。

3.如权利要求2所述的基于激光跟踪仪的焙烧机空间精度评价及测量方法，其特征在于，所述限位立板与所述底板形成L形直角卡板结构。

4.如权利要求2所述的基于激光跟踪仪的焙烧机空间精度评价及测量方法，其特征在于，所述第一靶球和所述第二靶球的间距大于等于焙烧机的台车车轮高度，所述第二靶球的高度高于焙烧机的台车车轮高度。

5.如权利要求1所述的基于激光跟踪仪的焙烧机空间精度评价及测量方法，其特征在于，所述竖向支架上设置有强磁基座，所述第一靶球和所述第二靶球设置在所述强磁基座上。

6.如权利要求1所述的基于激光跟踪仪的焙烧机空间精度评价及测量方法，其特征在于，通过激光跟踪仪确定第一靶球和第二靶球的测点连线在顶面顶抵部的顶抵面上的交点与侧面顶抵部的顶抵面的偏移距离以及所述第一靶球和所述第二靶球测点坐标与所述交点的坐标的换算关系包括：

基于激光跟踪仪和靶球分别测量标准直轨的侧面和顶面，获得侧面测点和顶面测点；

基于侧面测点拟合平面，并沿平面法向方向，偏移靶球半径大小距离，获得真实空间位置的侧平面；

基于顶面测点拟合平面，并沿平面法向方向，偏移靶球半径大小距离，获得真实空间位置的顶平面；

获取侧面与端面相交线；

基于激光跟踪仪获取第一靶球和第二靶球的第一测点坐标和第二测点坐标以及两侧点的连线与标准轨道顶面的交点坐标；

基于所述第一测点坐标和所述第二测点坐标和交点坐标，确定交点坐标与所述第一测点坐标和所述第二测点坐标的换算关系；

基于所述交点坐标和相交线确定交点与所述相交线的偏移距离。