[发明专利]电子芯片低温测试装置

说明书

本发明涉及电子芯片测试的领域，尤其是涉及一种电子芯片低温测试装置，包括保温箱，所述保温箱中设置有储液箱、泵、制冷机、固定冷板、活动冷板。所述储液箱内储存有冷却液，所述泵的进液口与所述储液箱连通，所述固定冷板和所述活动冷板均内置有冷却管路。所述活动冷板的所述冷却管路进液端通过波纹软管与所述固定冷板的所述冷却管路出液端连通，所述活动冷板的所述冷却管路出液端通过波纹软管与所述储液箱连通。所述保温箱的顶部开有容纳口，所述活动冷板可从所述容纳口中穿出所述保温箱。本申请具有提高电子芯片低温测试的精准度的效果。

技术领域

本发明涉及电子芯片测试的领域，尤其是涉及一种电子芯片低温测试装置。

背景技术

电子芯片在工业自动控制领域应用广泛，因此电子芯片的质量关乎工业生产线的顺利工作。电子芯片的工作环境复杂多样，有时需要耐低温，因此在电子芯片在出厂前，需要对电子芯片进行低温测试。

通常电子芯片的低温测试方法为将冷板放置在制冷柜中进行冷却，将冷板冷却到指定温度后，然后将冷板从制冷柜柜中取出，将电子芯片放置在冷板上，从而对电子芯片进行低温测试。

针对上述中的相关技术，发明人认为：将冷板从制冷柜中取出后，冷板的温度受室温的影响会逐渐升高，从而导致冷板的温度不恒定，无法对电子芯片进行精确测试。

发明内容

为了提高电子芯片低温测试的精准度，本申请提供一种电子芯片低温测试装置。

本申请提供的一种电子芯片低温测试装置，采用如下的技术方案：

一种电子芯片低温测试装置，包括保温箱，所述保温箱中设置有储液箱、泵、制冷机、固定冷板、活动冷板，所述储液箱内储存有冷却液，所述泵的进液口与所述储液箱连通，所述固定冷板和所述活动冷板均内置有冷却管路，所述泵的出液端与所述固定冷板的所述冷却管路进液端连通，所述制冷机用于对所述固定冷板进行冷却，所述活动冷板的所述冷却管路进液端通过波纹软管与所述固定冷板的所述冷却管路出液端连通，所述活动冷板的所述冷却管路出液端通过波纹软管与所述储液箱连通，所述保温箱的顶部开有容纳口，所述活动冷板可从所述容纳口中穿出所述保温箱。

通过采用上述技术方案，泵将储液箱中的冷却液抽出，使得冷却液一次通过泵、固定冷板中的冷却管路、活动冷板中的冷却管路后回流至储液箱中，形成一个冷却液循环回路。制冷机对固定冷板进行降温时，流经固定冷板的冷却管路的冷却液受到冷却，从而使得低温的冷却液对活动冷板进行降温，通过将活动冷板从容纳口中拿出，使得活动冷板放置在保温箱的外部，将电子芯片放置在活动冷板上，从而对电子芯片进行低温测试。由于冷却液一直处于循环状态，从而活动冷板的低温状态恒定，提高了电子芯片低温测试的精准度。

可选的，所述活动冷板设置有多个，所述容纳口开设有多个，所述容纳口与所述活动冷板一一对应设置。

通过采用上述技术方案，多个活动冷板的设置，便于对多个电子芯片进行同时低温测试，提高了工作效率。

可选的，所述活动冷板的所述冷却管路的进液端设置有第一阀门，所述活动冷板的所述冷却管路的出液端设置有第二阀门。

通过采用上述技术方案，利用第一阀门和第二阀门控制冷却液在活动冷板的冷却管路内的流动，从而可根据需要测试的电子芯片的数量，来控制不同数量的活动冷板进行工作。

可选的，所述固定冷板的所述冷却管路的出液端连通有连接管，所述连接管连通于所述储液箱，所诉连接管上设置有第三阀门。