[发明专利]一种测试向量生成方法、装置及存储介质在审
| 申请号: | 202210167471.6 | 申请日: | 2022-02-23 |
| 公开(公告)号: | CN114398848A | 公开(公告)日: | 2022-04-26 |
| 发明(设计)人: | 钱静洁 | 申请(专利权)人: | 无锡玖熠半导体科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F30/3308 | 分类号: | G06F30/3308;G06F30/323;G06F30/333 |
| 代理公司: | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人: | 朱晓林 |
| 地址: | 214000 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 测试 向量 生成 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种测试向量生成方法,其特征在于,所述方法包括:
获取测试芯片的测试网表,所述测试网表中包含所述测试芯片的扫描链中所有逻辑电路的测试节点及对应的测试管脚,所述测试节点为逻辑电路中相邻两个逻辑门电路的连接点;
根据所述测试网表确定所述测试芯片中测试节点的目标测试类型和测试管脚的信号值,信号值用于对所述测试芯片的所述测试节点进行故障检测;
基于测试管脚和信号值进行逻辑仿真,根据仿真输出值生成测试管脚的测试向量,并对具有相同测试向量的所述测试节点进行合并,获得合并后的目标测试向量。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试网表确定所述测试芯片的目标测试类型和测试管脚的测试值,包括:
确定所述测试芯片的所述目标测试类型,并从所述测试网表中选择第一测试节点,所述第一测试节点为所述测试网表中标记的用于检测逻辑电路的检测节点;
根据所述目标测试类型确定所述第一检测节点对应的第一期望信号值;其中,所述第一期望信号值为判断所述扫描链的结构及功能而标定的信号值;
根据所述第一期望信号值和所述目标测试类型确定第一测试管脚的第一信号值,所述第一测试管脚是用于确定和激发故障的初始管脚。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定第一测试管脚的第一信号值后,所述方法还包括:
根据所述第一检测节点和所述测试网表的网表结构确定第二测试管脚,并将所述第二测试管脚的第二信号值设置为与所述第一期望信号值相同。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于测试管脚和测试值进行逻辑仿真,根据仿真输出值生成测试管脚的测试向量,包括:
选定测试管脚并获取对应历史决策表,通过决策树算法确定测试管脚的信号值,记录测试管脚的决策情况;所述历史决策表包括对应测试管脚在历史决策中各种信号值和决策结果的次数;
通过真值表对已确定信号值的测试管脚进行逻辑仿真,并通过所述测试网表判断是否存在逻辑冲突;所述逻辑冲突用于验证扫描链中测试节点经过测试管脚设置的信号值激励后的信号值与期望信号值是否相同,以及该期望信号值能否传递到所述扫描链的输出;
响应于逻辑仿真存在逻辑冲突,跳过选中测试管脚,继续根据所述测试网表选择下一检测节点,并再次根据决策树算法设置对应信号值进行逻辑仿真;
响应于逻辑仿真不存在逻辑冲突,将本次选中的测试管脚以及设置的信号值进行保存;
根据选择的测试节点、所述测试网表、已确定测试管脚和信号值进行模拟故障检测,并根据检测输出值确定测试管脚的所述测试向量。
5.根据权利要求1至4任一所述的方法,其特征在于,所述扫描链的目标测试类型至少包括第一检测类型和第二检测类型,所述第一检测类型为stuckat-0类型,所述第二检测类型为stuckat-1类型,不同测试类型分别用于表述测试芯片的不同功能;
作用于测试管脚的信号值分为高电平信号值和低电平信号值,高电平信号值设为1,低电平信号值设为0,所述第一测试类型对应的第一期望信号为高电平信号,所述第二测试类型对应的第一期望信号为低电平信号。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据选择的测试节点、所述测试网表、已确定测试管脚和信号值进行模拟故障检测,并根据检测输出值确定测试管脚的所述测试向量,包括:
根据所述已确定测试管脚和信号值生成待测试向量,并作为所述扫描链的输入激励;其中,存在逻辑冲突的测试管脚的信号值为任意值;
分别将所述测试芯片设置为有故障和无故障状态,并检测两种状态下输入所述待测试向量的输出激励;
响应于所述扫描链在有故障和无故障状态下输出激励的异或结果为1,则确定所述待测试向量满足扫描链检测条件,生成所述检测节点的所述测试向量。
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