[发明专利]面板亮度分析方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种面板亮度分析方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取液晶面板的仿真模型；根据所述仿真模型确定所述仿真模型各节点的透过率影响参数；根据所述透过率影响参数计算所述仿真模型各节点的节点透过率；根据入射光亮度和所述节点透过率确定各节点的透射光亮度值。本申请实施例针对实际使用过程中存在外力作用的液晶面板产品，在设计阶段定量化计算其亮度分布，避免反复制作样品进行试验。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种面板亮度分析方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

薄膜晶体管-液晶显示器(TFT-LCD)通过改变驱动电压控制液晶盒(Cell)内部的液晶分子偏转状态，调节红色(R)、绿色(G)、蓝色(B)三个子像素的光学透过率，从而显示出特定颜色和亮度的彩色画面。因此，光学透过率是决定液晶面板亮度指标的重要因素，若由于某些原因造成局部区域透过率增大或减小，则液晶屏幕将产生亮暗不均，即Mura现象，其在低灰阶下表现为暗态漏光，而在高灰阶下则表现为亮态暗团，均严重影响LCD产品的光学品味。因此如何定量化地评价力学类Mura问题是一个亟待解决的问题。

发明内容

本申请实施例提供一种面板亮度分析方法、装置、电子设备及存储介质，针对实际使用过程中存在外力作用的液晶面板产品，在设计阶段定量化计算其亮度分布，避免反复制作样品进行试验。

第一方面，本申请实施例提供一种面板亮度分析方法，包括：

获取液晶面板的仿真模型；

根据所述仿真模型确定所述仿真模型各节点的透过率影响参数；

根据所述透过率影响参数计算所述仿真模型各节点的节点透过率；

根据入射光亮度和所述节点透过率确定各节点的透射光亮度值。

在一些实施例中，所述透过率影响参数包括面板透过率、开口率以及光强吸收系数，所述根据所述仿真模型确定所述仿真模型各节点的透过率影响参数，包括：

根据所述仿真模型确定对应节点之间的液晶盒厚度、基板内部应力、基板厚度以及相对错位量，所述对应节点为所述液晶面板的上玻璃基板和下玻璃基板在初始状态中相互对应的节点；

根据所述液晶盒厚度、所述基板内部应力以及所述基板厚度确定所述面板透过率；

根据所述相对错位量和预设开口率与相对错位量的对应关系，确定所述开口率；

获取所述液晶面板的光强吸收系数。

在一些实施例中，所述根据所述液晶盒厚度、所述基板内部应力以及所述基板厚度确定所述面板透过率，包括：

根据所述液晶盒厚度确定所述液晶盒琼斯矩阵；

根据所述基板内部应力和所述基板厚度确定所述基板琼斯矩阵；

根据所述液晶盒琼斯矩阵和所述基板琼斯矩阵确定所述面板透过率。

在一些实施例中，所述基板内部应力包括正应力分量和剪切应力分量，所述根据所述基板内部应力和所述基板厚度确定所述基板透过琼斯矩阵，包括：

将所述液晶面板的上玻璃基板和下玻璃基板分别分割成若干个玻璃层；

根据所述正应力分量和所述剪切应力分量计算各玻璃层的应力分量；

根据所述应力分量计算各玻璃层的分层琼斯矩阵；

根据所述各玻璃层的分层琼斯矩阵确定所述基板琼斯矩阵。

在一些实施例中，所述根据所述透过率影响参数计算所述仿真模型各节点的节点透过率，包括：