[发明专利]磁目标定位方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202210102789.6 申请日: 2022-01-27
公开(公告)号: CN114527511A 公开(公告)日: 2022-05-24
发明(设计)人: 谢玉波;李莹颖;马明祥;张锐;曹辉;邓阳阳;罗玉昆;徐馥芳 申请(专利权)人: 中国人民解放军军事科学院国防科技创新研究院
主分类号: G01V3/08 分类号: G01V3/08
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 刘亚平
地址: 100071 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 目标 定位 方法 装置 电子设备 存储 介质
【说明书】:

发明提供一种磁目标定位方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法应用于与磁目标呈垂直方向的磁探测阵列,所述磁探测阵列包括呈线性排列的多个磁传感器,所述方法包括:确定所述磁探测阵列中各所述磁传感器测量得到的关于所述磁目标的磁场强度;基于所述磁场强度,确定关于所述磁目标的多阶磁场强度导数;基于所述多阶磁场强度导数,确定所述磁目标在第一方向的磁位点,以及所述磁目标在第二方向距离所述磁探测阵列的磁距离,其中,所述第一方向与所述第二方向呈垂直关系;基于所述磁位点和所述磁距离,对所述磁目标进行定位。通过本发明,可以简单、快捷的实现对磁目标进行精准定位。

技术领域

本发明涉及磁探测技术领域,尤其涉及一种磁目标定位方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在磁异探测技术中,基于磁传感器的磁目标分辨和定位技术,极具应用价值。

相关技术可知,磁定位方法可以包括磁梯度张量定位方法和单分量梯度测量、总场梯度测量方法。其中,磁梯度张量定位方法为单测量点定位方法,可以通过磁梯度张量值和目标磁场值解算出目标和测量系统的相对位置。其特点是定位速度快、定位精度高,可以实现基于单一测量点的磁性目标定位。然而,在磁梯度张量定位方法中,磁梯度张量测量困难,所使用的仪器复杂,短时间内难以实用化。单分量梯度测量、总场梯度测量方法简单,兼具磁场定位方法和磁场张量定位方法的优点,但是需要多点拟合,规划一定的定位路径或者使用磁探仪阵列,不能单点定位,执行起来困难。

发明内容

本发明提供一种磁目标定位方法、装置、电子设备及存储介质,用以解决现有技术中进行磁目标定位时计算量大、操作复杂的缺陷,实现了简单、快捷得对磁目标进行精准定位。

本发明提供一种磁目标定位方法,所述方法应用于与磁目标呈垂直方向的磁探测阵列,所述磁探测阵列包括呈线性排列的多个磁传感器,所述方法包括:确定所述磁探测阵列中各所述磁传感器测量得到的关于所述磁目标的磁场强度;基于所述磁场强度,确定关于所述磁目标的多阶磁场强度导数;基于所述多阶磁场强度导数,确定所述磁目标在第一方向的磁位点,以及所述磁目标在第二方向距离所述磁探测阵列的磁距离,其中,所述第一方向与所述第二方向呈垂直关系;基于所述磁位点和所述磁距离,对所述磁目标进行定位。

根据本发明提供的一种磁目标定位方法,在所述基于所述磁位点和所述磁距离,对所述磁目标进行定位之后,所述方法还包括:确定所述磁探测阵列中的第一磁传感器测量得到的关于所述磁目标的第一磁场强度,其中,所述第一磁传感器为所述磁探测阵列中距离所述磁目标最近的磁传感器;基于所述第一磁场强度和所述磁距离,确定所述磁目标的磁矩;基于所述磁矩,对所述磁目标进行分类。

根据本发明提供的一种磁目标定位方法,所述基于所述磁场强度,确定关于所述磁目标的多阶磁场强度导数通过以下公式实现:

其中,Bn表示所述磁目标的n阶磁场强度导数,B(n+1-p)表示所述磁探测阵列中各所述磁传感器测量得到的关于所述磁目标的所述磁场强度。

根据本发明提供的一种磁目标定位方法,所述多阶磁场强度导数包括三阶磁场强度导数,所述磁探测阵列至少包括四个磁传感器,所述磁探测阵列沿第一方向对所述磁目标进行探测,所述基于所述多阶磁场强度导数,确定所述磁目标在第一方向的磁位点,包括:分别确定所述磁探测阵列中各所述磁传感器在所述第一方向的多个预设位点测量得到的关于所述磁目标的磁场强度;基于所述磁目标的磁场强度,确定与所述磁目标对应的三阶磁场强度导数;基于所述三阶磁场强度导数,以及与所述三阶磁场强度导数对应的所述预设位点,构建导数-位点图谱;基于所述导数-位点图谱,确定与所述导数-位点图谱的导数峰值对应的位点,并将与所述导数峰值对应的位点作为所述磁位点。

根据本发明提供的一种磁目标定位方法,所述基于所述磁目标的磁场强度,确定与所述磁目标对应的三阶磁场强度导数通过以下公式确定:

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