[发明专利]液晶显示装置及液晶显示装置短路检测方法

说明书

本发明提供了一种液晶显示装置及液晶显示装置短路检测方法，该装置包括：嵌板、IC模块、连接嵌板与IC模块的多个GOA驱动电路、熔接线路以及位于IC模块与熔接线路之间的成盒后测试点，其中，熔接线路为曲线，与多个GOA驱动电路中的每个GOA驱动电路均有两个交点，且熔接线路与多个GOA驱动电路位于不同金属层，成盒后测试点用于检测目标GOA驱动电路的波形，液晶显示装置发生短路时，在目标GOA驱动电路上的熔断点切断目标GOA驱动电路，检测熔断后的目标GOA驱动电路的波形，并根据检测结果确定短路位置，在检测结束后熔接熔接线路与目标GOA驱动电路相交的第一交点和第二交点，该装置减少了镭射确认异常位置的时间，提高了解析效率。

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其是涉及液晶显示装置及液晶显示装置短路检测方法。

背景技术

现有技术中，对于GOA信号相互短接产生的画异不良现象是从嵌板顶部、嵌板底部以及集成电路内部顺次镭射检测驱动电路的异常位置，该方法导致判断异常位置时间过长，尤其在确定IC模块内部异常时解析时间过久，并且在后续对驱动电路的改善中造成一定影响。

传统的解析手法在GOA驱动电路发生异常时无法直接判断出异常出现于嵌板侧还是IC模块侧，需要从嵌板顶端逐次镭射切断其中一根信号走线，并在每次切断后量测信号波形以判断异常位置，对于短路点出现在IC模块内部的情况来说，需要耗费大量的时间，严重影响解析效率。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种液晶显示装置及液晶显示装置短路检测方法，以减少了镭射确认异常位置的时间，提高了解析效率。

第一方面，本发明实施例提供一种液晶显示装置，该装置包括：嵌板、IC模块、连接嵌板与IC模块的多个GOA驱动电路、熔接线路以及位于IC模块与熔接线路之间的成盒后测试点；其中，熔接线路为曲线，与多个GOA驱动电路中的每个GOA驱动电路均有两个交点，且熔接线路与多个GOA驱动电路位于不同金属层；成盒后测试点用于检测目标GOA驱动电路的波形；在液晶显示装置发生短路时，在目标GOA驱动电路上的熔断点切断目标GOA驱动电路，检测熔断后的目标GOA驱动电路的波形，并根据检测结果确定短路位置，并在检测结束后熔接熔接线路与目标GOA驱动电路相交的第一交点和第二交点。进一步地，上述装置第一交点靠近嵌板，第二交点靠近IC模块，熔断点位于第一交点和第二交点之间。

进一步地，上述装置熔接线路为U型曲线。

进一步地，上述装置熔接线路为封闭曲线。

进一步地，上述装置熔接线路为一个或多个。

进一步地，上述装置熔接线路与每个GOA驱动电路的交点为该熔接线路的端点。

第二方面，本发明实施例还提供一种液晶显示装置短路检测方法，液晶显示装置包括嵌板、IC模块、连接嵌板与IC模块的多个GOA驱动电路、熔接线路以及位于IC模块与熔接线路之间的成盒后测试点；其中，熔接线路为曲线，与多个GOA驱动电路中的每个GOA驱动电路均有两个交点，且熔接线路与多个GOA驱动电路位于不同金属层，成盒后测试点用于检测目标GOA驱动电路的波形；方法包括：熔断熔断点；其中，熔断点位于目标GOA驱动电路上；在成盒后测试点对目标GOA驱动电路进行波形检测；根据波形检测结果，确定短路位置；熔接熔接线路与目标GOA驱动电路相交的第一交点和第二交点。

进一步地，上述根据波形检测结果，确定短路位置的步骤，包括：若检测结果表征波形异常，确定短路位置位于IC模块和熔断点之间。

进一步地，上述根据波形检测结果，确定短路位置的步骤，包括：若检测结果表征波形正常，确定短路位置位于嵌板和熔断点之间。

进一步地，上述方法还包括：对目标GOA驱动电路进行镜像检测；根据镜像检测结果，确定短路位置是否位于IC模块内部。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：