[发明专利]液晶显示装置及液晶显示装置短路检测方法

权利要求书

1.一种液晶显示装置，其特征在于，包括：嵌板、IC模块、连接所述嵌板与所述IC模块的多个GOA驱动电路、熔接线路以及位于所述IC模块与所述熔接线路之间的成盒后测试点；

其中，所述熔接线路为曲线，与所述多个GOA驱动电路中的每个GOA驱动电路均有两个交点，且所述熔接线路与所述多个GOA驱动电路位于不同金属层；所述成盒后测试点用于检测目标GOA驱动电路的波形；

在所述液晶显示装置发生短路时，在目标GOA驱动电路上的熔断点切断所述目标GOA驱动电路，检测熔断后的所述目标GOA驱动电路的波形，并根据检测结果确定短路位置，并在检测结束后熔接所述熔接线路与所述目标GOA驱动电路相交的第一交点和第二交点。

2.根据权利要求1所述的液晶显示装置，其特征在于，所述第一交点靠近所述嵌板，所述第二交点靠近所述IC模块，所述熔断点位于所述第一交点和所述第二交点之间。

3.根据权利要求1所述的液晶显示装置，其特征在于，所述熔接线路为U型曲线。

4.根据权利要求1所述的液晶显示装置，其特征在于，所述熔接线路为封闭曲线。

5.根据权利要求3或4任一项所述的液晶显示装置，其特征在于，所述熔接线路为一个或多个。

6.根据权利要求3所述的液晶显示装置，其特征在于，所述熔接线路与每个所述GOA驱动电路的交点为该熔接线路的端点。

7.一种液晶显示装置短路检测方法，其特征在于，所述液晶显示装置包括嵌板、IC模块、连接所述嵌板与所述IC模块的多个GOA驱动电路、熔接线路以及位于所述IC模块与所述熔接线路之间的成盒后测试点；其中，所述熔接线路为曲线，与所述多个GOA驱动电路中的每个GOA驱动电路均有两个交点，且所述熔接线路与所述多个GOA驱动电路位于不同金属层，成盒后测试点用于检测目标GOA驱动电路的波形；所述方法包括：

熔断熔断点；其中，所述熔断点位于目标GOA驱动电路上；

在所述成盒后测试点对所述目标GOA驱动电路进行波形检测；

根据波形检测结果，确定短路位置；

熔接所述熔接线路与所述目标GOA驱动电路相交的第一交点和第二交点。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，根据波形检测结果，确定短路位置的步骤，包括：

若所述检测结果表征波形异常，确定所述短路位置位于所述IC模块和所述熔断点之间。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，根据波形检测结果，确定短路位置的步骤，包括：

若所述检测结果表征波形正常，确定所述短路位置位于所述嵌板和所述熔断点之间。

10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对所述目标GOA驱动电路进行镜像检测；

根据所述镜像检测结果，确定所述短路位置是否位于所述IC模块内部。