[发明专利]传感器校准方法、电子设备、介质及系统

说明书

本申请提供了一种传感器校准方法、电子设备、介质及系统，方法包括，获取测量第一参数得到的第一序列；获取测量所述第一参数得到的第二序列，所述第二序列的采样频率低于所述第一序列的采样频率；采用动态时间规整算法将所述第二序列调整至和所述第一序列对齐；修正所述第一序列。该方法无需拆卸传感器，不会影响物联网中的设备的工作状态，并且无需在传感器中增设校准元件，能够降低硬件成本。

技术领域

本发明涉及无线传感器领域，特别涉及一种传感器校准方法、电子设备、介质及系统。

背景技术

在工业设备物联网中，通常在工业设备上部署传感器来实时测量数据，以实现状态监控和故障诊断。为了保证传感器的测量精度，需要对传感器进行定期校准。

一般地，通常采用拆卸传感器并将传感器送至校准实验室，或者在传感器中加入激励单元来实现定期校准。然而，拆卸传感器回实验室进行校准的方法不能很好地满足工业场景，当设备需要连续工作时，拆卸传感器需要在设备停机后执行，并且在传感器的校准过程中，设备处于无监控的状态，因此拆卸传感器回实验室进行校准的方法时效性较低并会影响对设备的状态监控。而在传感器中加入激励单元的方法会增加额外的硬件成本。

发明内容

本申请提供了一种传感器校准方法、电子设备、介质及系统，无需拆卸传感器，并可以在不增加额外成本的前提下实现对传感器的在线校准。

本申请的第一方面公开了一种传感器校准方法，所述电路包括：获取测量第一参数得到的第一序列；获取测量所述第一参数得到的第二序列，所述第二序列的采样频率低于所述第一序列的采样频率；采用动态时间规整算法将所述第二序列调整至和所述第一序列对齐；修正所述第一序列。

在上述第一方面的一种可能的实现中，修正所述第一序列包括，将所述第一序列按照第一步进进行迭代得到第三序列，计算所述第三序列和对齐后的所述第二序列的第一相似度；将所述第三序列按照第二步进进行迭代得到第四序列，计算所述第四序列和对齐后的所述第二序列的第二相似度，所述第二步进增量为所述第一步进增量加一个步进增量；若所述第一相似度小于所述第二相似度，则所述第三序列为校准后的所述第一序列。

在上述第一方面的一种可能的实现中，所述第一序列为Q＝q₁,q₂,...,q_n，n为所述第一序列中的数据点个数，所述迭代指将Qt-1更新为Qt＝q₁+tμ,q₂₊tμ,...,q_n+tμ，其中t为迭代的步数，μ为步进增量。

在上述第一方面的一种可能的实现中，所述第二序列是利用巡检设备在指定的时间内测量得出，所述巡检设备定期校准。

在上述第一方面的一种可能的实现中，所述传感器在所述第一时间内的采样频率为大于0.2次/秒。

在上述第一方面的一种可能的实现中，所述第一参数为以下的一种或多种：温度、压力、PH。

本申请的第二方面公开了一种电子设备，所述设备包括存储有计算机可执行指令的存储器和处理器；当所述指令被所述处理器执行时，使得所述设备实施根据本申请第一方面的所述的传感器校准方法。

本申请的第三方面公开了一种计算机可读介质，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现本申请第一方面的所述的传感器校准方法。

本申请的第四方面公开了一种传感器校准系统，所述系统包括，传感器，巡检设备和耦接到所述传感器和所述巡检设备的处理器，其中所述传感器测量第一参数以得到第一序列；所述巡检设备测量所述第一参数以得到第二序列，所述第二序列的采样频率低于所述第一序列的采样频率；所述处理器采用动态时间规整算法将所述第二序列调整至和所述第一序列对齐并修正所述第一序列。