[发明专利]传感器校准方法、电子设备、介质及系统

权利要求书

1.一种传感器校准方法，用于电子设备，其特征在于，所述方法包括，

获取测量第一参数得到的第一序列；

获取测量所述第一参数得到的第二序列，所述第二序列的采样频率低于所述第一序列的采样频率；

采用动态时间规整算法将所述第二序列调整至和所述第一序列对齐；

修正所述第一序列。

2.根据权利要求1所述的传感器校准方法，其特征在于，修正所述第一序列包括，

将所述第一序列按照第一步进进行迭代得到第三序列，计算所述第三序列和对齐后的所述第二序列的第一相似度；

将所述第三序列按照第二步进进行迭代得到第四序列，计算所述第四序列和对齐后的所述第二序列的第二相似度，所述第二步进增量为所述第一步进增量加一个步进增量；

若所述第一相似度小于所述第二相似度，则所述第三序列为校准后的所述第一序列。

3.根据权利要求2所述的传感器校准方法，其特征在于，所述第一序列为Q＝q₁,q₂,...,q_n，n为所述第一序列中的数据点个数，所述迭代指将Qt-1更新为Qt＝q₁+tμ,q₂+tμ,...,q_n+tμ，其中t为迭代的步数，μ为步进增量。

4.根据权利要求1所述的传感器校准方法，其特征在于，所述第二序列是利用巡检设备在指定的时间内测量得出，所述巡检设备定期校准。

5.根据权利要求1所述的传感器校准方法，其特征在于，所述传感器在所述第一时间内的采样频率为大于0.2次/秒。

6.根据权利要求1所述的传感器校准方法，其特征在于，所述第一参数为以下的一种或多种：温度、压力、PH。

7.一种电子设备，其特征在于，所述设备包括存储有计算机可执行指令的存储器和处理器；当所述指令被所述处理器执行时，使得所述设备实施根据权利要求1至6中任一项所述的传感器校准方法。

8.一种计算机可读介质，其特征在于，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现权利要求1至6中任一项所述的传感器校准方法。

9.一种传感器校准系统，其特征在于，所述系统包括，传感器，巡检设备和耦接到所述传感器和所述巡检设备的处理器，其中

所述传感器测量第一参数以得到第一序列；

所述巡检设备测量所述第一参数以得到第二序列，所述第二序列的采样频率低于所述第一序列的采样频率；

所述处理器采用动态时间规整算法将所述第二序列调整至和所述第一序列对齐并修正所述第一序列。

10.根据权利要求9所述的传感器校准系统，其特征在于，所述处理器还包括网关，所述网关汇总所述传感器的数据并修正所述第一序列。