[发明专利]一种用于圆锥滚子轴承预紧选垫的测量设备及方法在审

专利信息
申请号: 202210079752.6 申请日: 2022-01-24
公开(公告)号: CN114413815A 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 鲍益智;冒朝勇 申请(专利权)人: 上海纳铁福传动系统有限公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08;F16C35/06
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 侯冻
地址: 201315 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 圆锥 滚子 轴承 预紧选垫 测量 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种用于圆锥滚子轴承预紧选垫的测量设备,用于对传动产品(1)的圆锥滚子轴承预紧选垫尺寸进行测量,所述传动产品(1)包括壳体(11)、pinion轴(12)、以及都套接在pinion轴(12)上的第一圆锥滚子轴承(13)和第二圆锥滚子轴承(14),所述第一圆锥滚子轴承(13)和第二圆锥滚子轴承(14)分别靠近pinion轴(12)的首端和尾端,所述传动产品(1)还包括抵接在第一圆锥滚子轴承(13)的内圈下端的垫圈(15),且垫圈(15)另一端面抵接在第二圆锥滚子轴承(14)内圈端面或者pinion轴(12)上的轴肩(12a)上;其特征在于:所述测量设备包括机架(2)、产品安装机构(4)、预紧力机构(6)、测量头(5)、下压机构(9)、以及升降驱动机构;

所述产品安装机构(4)安在机架(2)上,包括用于安装固定壳体(11)的壳体定位座、以及用于支撑在支撑pinion轴(12)尾端的承载支撑块(44),所述承载支撑块(44)能够相对壳体定位座上下移动;

所述预紧力机构(6)能够对承载支撑块(44)施加向上的力;

所述测量头(5)位于产品安装机构(4)上方,所述测量头(5)包括测量基壳(51)、轴承保持座(52)、连接工装(53)、上测量板(54)、弹性结构、下测量板(55)、配合工装(56)、以及测量组件(57),所述轴承保持座(52)固定在机壳上端,所述连接工装(53)、上测量板(54)、下测量板(55)和配合工装(56)都可上下移动地安装于测量基壳(51),所述连接工装(53)上端能够伸入到轴承保持座(52)中,所述上测量板(54)固接或抵接在连接工装(53)下端,所述下测量板(55)位于上测量板(54)下方,所述弹性结构设置在上测量板(54)和下测量板(55)之间、用于提供使上测量板(54)和下测量板(55)分开的弹性力,所述配合工装(56)固接或抵接在下测量板(55)下端,所述配合工装(56)用于插入到壳体(11)中并与第二圆锥滚子轴承(14)的内圈端面或者pinion轴(12)上的轴肩(12a)相抵,所述测量头(5)中还具有竖向贯穿轴承保持座(52)、连接工装(53)、上测量板(54)、下测量板(55)和配合工装(56)的测量通孔(5a),所述测量通孔(5a)用于pinion轴(12)插入,所述测量组件(57)安装在测量基壳(51)上且能够测量上测量板(54)和下测量板(55)之间的间距;

所述下压机构(9)包括位于轴承保持座(52)上方的压块(91);

所述升降驱动机构安装在机架(1)上,并能驱动测量头(5)和下压机构(9)上下移动。

2.根据权利要求1所述的测量设备,其特征在于:所述升降驱动机构包括可上下移动地安装在机架(2)上的升降架(3)、以及驱动移动机架(2)上下移动的升降动力组件(8),所述测量头(5)和下压机构(9)都安装在升降架(3)上,且测量头(5)还能够相对升降架(3)上下移动一定距离。

3.根据权利要求1所述的测量设备,其特征在于:所述下压机构(9)还包括安装在移动机架(2)上的旋转驱动组件,所述旋转驱动组件包括设置在测量通孔(5a)上方的旋转驱动轴(92)、以及驱动旋转驱动轴(92)转动的旋转动力源,所述旋转驱动轴(92)能够伸入到测量通孔(5a)中,且旋转驱动轴(92)下端具有用于与pinion轴(12)传动连接的传动连接结构;所述测量头(5)能够在移动机架(2)上上下移动。

4.根据权利要求3所述的测量设备,其特征在于:所述旋转动力源包括电机,所述旋转驱动组件还包括连接电机输出轴与旋转驱动轴(92)的连接轴(96),所述旋转驱动轴(92)与连接轴(96)之间轴向可相对移动、周向相固定,且旋转驱动轴(92)与连接轴(96)之间设有缓冲弹簧(97),所述压块(91)与连接轴(96)在上下方向上相固定。

5.根据权利要求1所述的测量设备,其特征在于:所述测量头(5)的测量组件(57)包括设置在上测量板(54)和下测量板(55)之间的上距离传感器(57a)和下距离传感器(57b),所述上距离传感器(57a)和下距离传感器(57b)固定在测量基壳(51)上,且分别用于测量上测量板(54)和下测量板(55)的位置。

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