[发明专利]基于磁化微不对称磁芯群体镜像匹配的零点偏置抑制方法有效

专利信息
申请号: 202210072803.2 申请日: 2022-01-21
公开(公告)号: CN114089013B 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 李红斌;陈庆;焦洋;周磊 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00;G01R1/16
代理公司: 武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙) 42242 代理人: 万畅
地址: 430000 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 磁化 不对称 群体 匹配 零点 偏置 抑制 方法
【说明书】:

发明公开了一种基于磁化微不对称磁芯群体镜像匹配的零点偏置抑制方法,包括利用磁滞回线特性,计算每个磁芯的磁化特性评估指标IKi;然后计算任意两个磁芯间的磁化特性评估指标差值,形成差值矩阵Dev;再依据差值矩阵Dev与零点偏置目标IL,获取每个磁芯的匹配难度系数Di;最后,利用差值矩阵与匹配难度系数,依次从大批量磁芯中两个具有相似磁化特性的磁芯来组成磁调制器。本发明计算出每个磁芯的匹配难度系数,并每次优先挑选匹配难度系数最大的磁芯进行匹配,可在很短时间内得出大批量磁芯的配对结果,可将磁调制器的零点偏置控制在预期目标以下,为提高磁调制器分辨率与准确性奠定基础。

技术领域

本发明属于电气技术领域,更具体地,涉及一种基于磁化微不对称磁芯群体镜像匹配的零点偏置抑制方法。

背景技术

在电力管理、在线监测等电气领域中,微弱直流电流非接触测量的需求日益增强。以电力电缆为例,随着电缆在智能电网中的广泛应用,电缆绝缘在线监测重要性日益凸显。电缆的绝缘劣化会产生“整流效应”,导致电缆中出现直流泄漏电流,其是评估电缆绝缘状态的关键指标之一。然而,直流泄漏电流信号非常微弱,通常为μA级,因此需要高分辨率的非接触式直流电流传感器。

非接触式直流电流传感器主要包括霍尔电流传感器、磁阻式电流传感器和磁调制式电流传感器。其中霍尔传感器分辨率低、温度漂移大;磁阻式传感器灵敏度高、线性度好,但是易受噪声干扰;而磁调制器具有低噪声和高稳定性的优点,在弱直流检测领域中应用更广泛。

磁调制器目前有两种结构,即开环型和闭环型。闭环传感器利用了零磁通原理,它在大多数场景下具有更高的测量精度。然而,与开环传感器相比,其反馈回路的测量误差会使闭环传感器在微弱电流检测场景中失去高精度的优势。因此,开环传感器将更适合测量弱直流电流,国内外学者们对开环磁调制器的优化设计和实际应用都进行一定研究。

开环磁调制器通常采用双磁芯差动式结构提高测量分辨率,目前分辨率已达到数十微安,然而两个磁芯难以保证完全一致,磁芯间微弱的磁化不对称性将导致磁调制器存在零点偏置,使得测量分辨率难以进一步提升。因此,亟需一种磁调制器零点偏置抑制方法,为进一步提高测量分辨率与准确性奠定基础。

发明内容

针对现有技术的缺陷,本发明的目的在于提供一种基于磁化微不对称磁芯群体镜像匹配的零点偏置抑制方法,旨在磁调制器大规模生产中,快速筛选出磁化特性近乎对称的两个磁芯来构成磁调制器,从而保证所有磁调制器零点偏置均处于较低水平。

为实现上述目的,本发明提供了一种基于磁化微不对称磁芯群体镜像匹配的零点偏置抑制方法,包括以下步骤:

S1. 利用磁芯的磁滞回线特性,计算出用以制作n个磁调制器的2n个磁芯的磁化特性评估指标IKi,i=1,2,...,2n;

S2. 将所述2n个磁芯的序号记录在数组Index中;

S3. 计算任意两个磁芯Cp与Cq间的磁化特性评估指标差值与,并将计算结果记录在差值矩阵Dev中;

S4. 依据所述差值矩阵Dev与磁调制器零点偏置目标IL,计算每一个磁芯Ci的匹配难度系数Di

S5. 在所述数组Index中,优先挑选具有最大所述匹配难度系数的磁芯Cx进行配对;其次,在剩余磁芯中选出所述匹配难度系数最大,且与所述磁芯Cx间的所述评估指标差值小于所述磁调制器零点偏置目标IL的磁芯Cy

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210072803.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top