[发明专利]一种近距离无线通信芯片信号覆盖测试方法及系统有效
申请号: | 202210034157.0 | 申请日: | 2022-01-13 |
公开(公告)号: | CN114050880B | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | 秦军瑞;吴劲;李启文;段志奎;林冰胜;许剑锋;李洋;邓锐;邓俊杰 | 申请(专利权)人: | 广州智慧城市发展研究院;广州搏创信息科技有限公司;广州中科曜芯集团有限公司 |
主分类号: | H04B17/309 | 分类号: | H04B17/309;H04B5/00 |
代理公司: | 广州专理知识产权代理事务所(普通合伙) 44493 | 代理人: | 邓易偲 |
地址: | 510000 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 近距离 无线通信 芯片 信号 覆盖 测试 方法 系统 | ||
1.一种近距离无线通信芯片信号覆盖测试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
S100,将传感器测试网络初始化,设置时间周期的循环次数t的初始值为1;所述传感器测试网络中的传感器节点包括一个待测主节点和多个测试从节点;其中待测主节点为无线传感器网络节点,其无线通信模块采用待测芯片,待测芯片为无线收发芯片,测试从节点为无线传感器网络节点;
S200,在第t个时间周期时,将所述传感器测试网络中的传感器节点的位置随机化,t值范围为[1, N];
S300,计算所述待测主节点与测试从节点之间的网络连接拓扑集合G=S,T,F,C,其中包括通信路径状态序列
S400,根据所述网络连接拓扑集合
S500,判断t值是否达到循环阈值N,若是则跳转至步骤S600,否则t值加1跳转至步骤S200;
S600,判断在循环N次内待测芯片测试合格的次数是否超过动态测试阈值,若是则跳转至步骤S700,否则跳转至步骤S100;
S700,根据所述最优路由路径距离Wt,1,计算待测主节点无线通信的信号覆盖相邻连接强度矩阵Sadjoin,得到所述待测芯片的信号覆盖连通区域Sconnect,及其信号覆盖连通距离DSignal,输出所述待测的芯片的信号覆盖范围测试结果。
2.根据权利要求1所述的一种近距离无线通信芯片信号覆盖测试方法,其特征在于,在S100中,待测主节点为无线传感器网络节点,其无线通信模块采用待测芯片,测试从节点为无线传感器网络节点,其无线通信模块采用标准芯片,所述传感器测试网络为无线传感器网络。
3.根据权利要求1所述的一种近距离无线通信芯片信号覆盖测试方法,其特征在于,在S100中,在步骤S600中,判断在循环N次内待测芯片测试合格的次数是否超过动态测试阈值line的方法为:
S601,计算待测芯片测试合格的次数Pass;
S602,计算待测芯片测试合格率PPass = ( Pass/N )×100%,PPass = [0, 1];
S603,动态测试阈值为line;其中 line = N×PPass/[1-PPass×(N×mod( 1/PPass));mod为求余函数;
S604,若待测芯片测试合格的次数Pass>line,则跳转至步骤S700;否则跳转至步骤S100。
4.根据权利要求1所述的一种近距离无线通信芯片信号覆盖测试方法,其特征在于,在S100中,基于无线通信的传感器测试网络初始化包括测试环境初始化、传感器节点初始化及网络拓扑初始化,其中测试环境是横纵坐标长度为X×Y大小的测试场地,测试场地内包括随机放置的若干个可设障碍物;传感器节点共有P个,随机选择其一为待测主节点安装待测芯片作为无线通信模块,其余(P-1)个传感器节点均为测试从节点安装标准芯片;构建网络连接拓扑集合G=S,T,F,C并初始化,设置路径信任连接概率序列
5.根据权利要求1所述的一种近距离无线通信芯片信号覆盖测试方法,其特征在于,在S200中,在第t个时间周期时进行位置更新,传感器测试网络中的传感器节点位置随机化,设定随机放置待测主节点的位置坐标为(xt, yt),其中xt= [0, X],yt = [0, Y]。
6.一种近距离无线通信芯片信号覆盖测试系统,其特征在于,所述一种近距离无线通信芯片信号覆盖测试系统包括:处理器、存储器及存储在所述存储器中并在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1所述的一种近距离无线通信芯片信号覆盖测试方法中的步骤,所述一种近距离无线通信芯片信号覆盖测试系统可以运行于桌上型计算机、笔记本、掌上电脑及云端数据中心的计算设备中。
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