[发明专利]集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置

说明书

本申请公开了一种集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置。该方法包括将待测设备的测试测量信号的产生与所述测试测量信号的采集相关联；通过调用预设应用程序接口，生成用户自定义测试测量应用和应用对应的控制界面；根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集，以及根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生。本申请解决了缺少综合式测试测量系统，无法使信号的产生和信号的采集相关联的技术问题。通过本申请能够应用到更多的测试场景，获取更多维度的测量信息。同时对用户提供开发接口，从而满足用户测试测量应用的相关需求。

技术领域

本申请涉及测试测量系统领域，具体而言，涉及一种集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置。

背景技术

测量仪器各自独立，通常搭配使用才能够满足日常测试测量需求。

测试测量设备的功能分离，需要单独操作依据供电。并且设备之间单独分离，无法进行联网。

针对相关技术中缺少综合式测试测量系统，无法使信号的产生和信号的采集相关联的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置，以解决缺少综合式测试测量系统，无法使信号的产生和信号的采集相关联的问题。

为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种集成化测试测量方法。

根据本申请的集成化测试测量方法包括：将待测设备的测试测量信号的产生与所述测试测量信号的采集相关联；通过调用预设应用程序接口，生成用户自定义测试测量应用和应用对应的控制界面；根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集，以及根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生。

进一步地，所述根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生包括：采用FPGA产生所述待测设备产生的测试测量信号、产生控制电源、采集控制信号、处理采集数据。

进一步地，根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集，还包括：所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现多种所述测试测量信号的采集，其中所述多种所述测试测量信号包括电源、信号发生器、示波器、频谱仪、万用表的测试测量信号。

进一步地，还包括同时运行与用户相关的应用程序。

进一步地，所述根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集包括：根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号在时域、频域至少两个维度的测试测量信号的采集。

进一步地，所述根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集包括：通过机器学习基于所述测试测量信号的数据进行智能诊断；基于语音控制、语音信息报告接口，显示所述测试测量信号。

为了实现上述目的，根据本申请的另一方面，提供了一种集成化测试测量系统。

根据本申请的集成化测试测量系统包括：树莓派模块，用于控制测试测量过程以及显示测试测量结果；FPGA模块，用于处理所述测试测量过程产生的数据；ADC接口，与待测设备用于接收采集到的测试测量数据并转换为数字信号；DAC接口，与待测设备连接用于发送所述FPGA模块产生的测试测量结果数据并转换为模拟信号。

为了实现上述目的，根据本申请的另一方面，提供了一种集成化测试测量。

根据本申请的集成化测试测量包括：关联模块，用于将待测设备的测试测量信号的产生与所述测试测量信号的采集相关联；配置模块，用于通过调用预设应用程序接口，生成用户自定义测试测量应用和应用对应的控制界面；测试测量模块，用于根据所述自定义测试测量应用实现所述测试测量信号的采集，以及根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生。