[发明专利]集成化测试测量方法、仪器、存储介质、电子装置

权利要求书

1.一种集成化测试测量方法，其特征在于，包括：

将待测设备的测试测量信号的产生与所述测试测量信号的采集相关联；

通过调用预设应用程序接口，生成用户自定义测试测量应用和应用对应的控制界面；

根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集，以及根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生包括：采用FPGA产生所述待测设备产生的测试测量信号、产生控制电源、采集控制信号、处理采集数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集，还包括：

所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现多种所述测试测量信号的采集，其中所述多种所述测试测量信号包括电源、信号发生器、示波器、频谱仪、万用表的测试测量信号。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括同时运行与用户相关的应用程序。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集包括：

根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号在时域、频域至少两个维度的测试测量信号的采集。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述自定义测试测量应用基于预设收发控制协议，实现所述测试测量信号的采集包括：

通过机器学习基于所述测试测量信号的数据进行智能诊断；

基于语音控制、语音信息报告接口，显示所述测试测量信号。

7.一种集成化测试测量系统，其特征在于，包括：

树莓派模块，用于控制测试测量过程以及显示测试测量结果；

FPGA模块，用于处理所述测试测量过程产生的数据；

ADC接口，与待测设备用于接收采集到的测试测量数据并转换为数字信号；

DAC接口，与待测设备连接用于发送所述FPGA模块产生的测试测量结果数据并转换为模拟信号。

8.一种集成化测试测量装置，其特征在于，包括：

关联模块，用于将待测设备的测试测量信号的产生与所述测试测量信号的采集相关联；

配置模块，用于通过调用预设应用程序接口，生成用户自定义测试测量应用和应用对应的控制界面；

测试测量模块，用于根据所述自定义测试测量应用实现所述测试测量信号的采集，以及根据所述控制界面控制所述测试测量信号的产生。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行所述权利要求1至7任一项所述的方法。

10.一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行所述权利要求1至7任一项所述的方法。