[发明专利]电路的测试方法、装置、设备及存储介质

说明书

本公开提供一种电路的测试方法、装置、设备及存储介质。所述电路的测试方法包括：确定待测电路中预设电路模块以及预设电路模块中的预设节点；按照预设输入规则，向待测电路的输入端输入测试信号，获取预设电路模块中预设节点的信号；根据所获取的预设节点的信号，确定预设电路模块的状态。本公开示例性的实施例提供的电路的测试方法以预设电路模块作为测试对象，基于其预设节点的信号确定该预设电路模块的状态，可以基于电路对应的功能模块进行测试，无论是在电路设计的初期，中后期都可以对电路进行测试，而不局限于电路设计完成后的测试，以能及时发现电路设计中的缺陷，冲突。

技术领域

本公开涉及半导体技术领域，尤其涉及一种电路的测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

随着芯片技术的发展，芯片的电路设计越来越复杂。在电路设计过程中，可能会存在电路设计缺陷。在相关技术中，通过对电路的功能以及时序进行测试和验证来确定电路设计中的缺陷。

发明内容

以下是对本公开详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

本公开提供一种电路的测试方法、装置、设备及存储介质。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种电路的检测方法，所述测试方法包括：

确定待测电路中预设电路模块以及所述预设电路模块中的预设节点；

按照预设输入规则，向所述待测电路的输入端输入测试信号，获取所述预设电路模块中预设节点的信号；

根据所获取的所述预设节点的信号，确定所述预设电路模块的状态。

根据本公开的一些实施例，所述预设节点包括所述预设电路模块的输入端、输出端和中间节点中的一种或多种；其中，所述中间节点包括描述所述预设电路模块的输入端和输出端之间的信号变化的节点。

根据本公开的一些实施例，所述按照预设输入规则，向所述待测电路的输入端输入测试信号，包括：

按照预设顺序，向所述待测电路的输入端依次输入多个测试信号。

根据本公开的一些实施例，所述按照预设输入规则，向所述待测电路的输入端输入测试信号，包括：

随机向所述待测电路的输入端依次输入多个测试信号。

根据本公开的一些实施例，所述测试方法应用在标的电路设计过程的第一阶段；

其中，所述测试电路包括部分所述标的电路。

根据本公开的一些实施例，所述测试方法应用在标的电路设计过程的第二阶段；

其中，所述测试电路包括部分或全部所述标的电路。

根据本公开的一些实施例，所述测试方法应用在标的电路设计完成阶段；

所述待测电路包括部分或全部标的电路。

根据本公开的一些实施例，所述预设电路模块包括锁存器和/或触发器。

根据本公开的一些实施例，所述确定待测电路中预设电路模块以及所述预设电路模块中的预设节点，包括：

按照所述待测电路的预设电路模块的连接关系，确定所述待测电路中每个预设电路模块以及每个预设电路模块中所有的预设节点。

根据本公开的一些实施例，所述根据所获取的所述预设节点的信号，确定所述预设电路模块的状态，包括：

当所获取的所述预设节点的信号为非真值时，确定所述预设电路模块为异常。

本公开的第二方面提供一种电路测试装置，所述电路测试装置包括：