[发明专利]电路的测试方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种电路的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：

确定待测电路中预设电路模块以及所述预设电路模块中的预设节点；

按照预设输入规则，向所述待测电路的输入端输入测试信号，获取所述预设电路模块中预设节点的信号；

根据所获取的所述预设节点的信号，确定所述预设电路模块的状态。

2.根据权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，所述预设节点包括所述预设电路模块的输入端、输出端和中间节点中的一种或多种；其中，所述中间节点包括描述所述预设电路模块的输入端和输出端之间的信号变化的节点。

3.根据权利要求2所述的电路的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

确定所述预设电路模块在所述待测电路中的路径信息。

4.根据权利要求3所述的电路的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

根据所述路径信息，确定所述预设电路模块中预设节点的预设信号；

所述根据所获取的所述预设节点的信号，确定所述预设电路模块的状态，包括：

根据所获取的所述预设节点的信号和所述预设信号，确定所述预设电路模块的状态。

5.根据权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，所述按照预设输入规则，向所述待测电路的输入端输入测试信号，包括：

按照预设顺序，向所述待测电路的输入端依次输入多个测试信号。

6.根据权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，所述按照预设输入规则，向所述待测电路的输入端输入测试信号，包括：

随机向所述待测电路的输入端依次输入多个测试信号。

7.根据权利要求5或6所述的电路的测试方法，其特征在于，所述测试方法应用在标的电路设计过程的第一阶段；

其中，所述测试电路包括部分所述标的电路。

8.根据权利要求5或6所述的电路的测试方法，其特征在于，所述测试方法应用在标的电路设计过程的第二阶段；

其中，所述测试电路包括部分或全部所述标的电路。

9.根据权利要求5或6所述的电路的测试方法，其特征在于，所述测试方法应用在标的电路设计完成阶段；

所述待测电路包括部分或全部标的电路。

10.根据权利要求2所述的电路的测试方法，其特征在于，所述预设电路模块包括锁存器和/或触发器。

11.根据权利要求5所述的电路的测试方法，其特征在于，所述确定待测电路中预设电路模块以及所述预设电路模块中的预设节点，包括：

按照所述待测电路的预设电路模块的连接关系，确定所述待测电路中每个预设电路模块以及每个预设电路模块中所有的预设节点。

12.根据权利要求1所述的电路的测试方法，其特征在于，所述根据所获取的所述预设节点的信号，确定所述预设电路模块的状态，包括：

当所获取的所述预设节点的信号为非真值时，确定所述预设电路模块为异常。

13.一种电路测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：

第一确定模块，所述第一确定模块被设置为确定待测电路中预设电路模块以及所述预设电路模块中的预设节点；

检测模块，所述检测模块被配置为按照预设输入规则，向所述待测电路的输入端输入测试信号，获取所述预设电路模块中预设节点的信号；

第二确定模块，所述第二确定模块被配置为根据所获取的所述预设节点的信号，确定所述预设电路模块的状态。