[发明专利]一种控制器的综合测试方法在审

专利信息
申请号: 202210020105.8 申请日: 2022-01-10
公开(公告)号: CN114384895A 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 王海涛;刘彦军;王亚京;包鹏赞;陈金香 申请(专利权)人: 北京航天新立科技有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 北京市京大律师事务所 11321 代理人: 陈如明
地址: 100039*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 控制器 综合测试 方法
【权利要求书】:

1.一种控制器的综合测试方法,其特征在于,所述测试方法包括功能自检测试和控制器功能测试、以及控制器在线升级;每次测试开始需首先进行所述功能自检测试,所述自检测试通过后方可进行所述功能测试和所述控制器在线升级。

2.根据权利要求书1所述的控制器的综合测试方法,其特征在于,所述功能自检测试包括:电阻测试功能自检、开入信号测试功能自检、开出信号测试功能自检、二次电源测试自检、弹测量测试功能自检、继电器漏电流功能自检、点火开出二极管测试功能自检和DSP在线升级功能自检。

3.根据权利要求书1或2所述的控制器的综合测试方法,其特征在于,所述功能测试包括:电阻测试、开入信号测试、开出信号测试、二次电源测试、弹测量测试、继电器漏电流测试和点火开出二极管测试。

4.根据权利要求书2或3所述的控制器的综合测试方法,其特征在于,电阻测试分为大电阻和小电阻测试,阻值大于1000Ω的为大电阻,其余为小电阻;其中,大电阻采用二线制,小电阻采用四线制;对被测电阻测量5次,排序取中间值,并循环10次,求取平均值为最终测量结果。

5.根据权利要求书2或3所述的控制器的综合测试方法,其特征在于,开入信号测试和开出信号测试,均分为有源触点和无源触点,有源触点直接接入光耦,通过检测光耦的高电平判断信号开出是否正常;无源触点需加28V电压后再接入光耦进行检测,同样通过光耦的高电平判断信号开出是否正常。

6.根据权利要求书2或3所述的控制器的综合测试方法,其特征在于,二次电源测试是通过控制矩阵开关将数字万用表接入到被测控制器的二次电源电路中,通过所述数字万用表延时读取所述被测控制器的电流值,每间隔100ms读取一次,共读取3次求取平均值为最终测量值。

7.根据权利要求书2或3所述的控制器的综合测试方法,其特征在于,继电器漏电流测试通过继电器漏电流测试电路和数字万用表实现测试电路的漏电流,延时读取电流值,间隔100ms读取一次,共读取3次求取平均值为最终测量值。

8.根据权利要求书2或3所述的控制器的综合测试方法,其特征在于,点火开出二极管测试是通过控制矩阵开关和数字万用表实现测试,数字万用表读取所述被测控制器中被测二极管的峰值电流和稳定阻值,实现所述点火开出二极管测试。

9.根据权利要求书2或3所述的控制器的综合测试方法,其特征在于,弹测量测试是测弹测量有源信号,将有源信号接入光耦中,监检测光耦为高电平,则测试结果为正确。

10.根据权利要求书2或3所述的控制器的综合测试方法,其特征在于,所述在线升级为DSP程序在线升级,以1553B通讯方式上传DSP程序到所述被测控制器,随后进行升级文件的回读,对比DSP型号,DSP内部数据区,FLASH参数区,FLASH程序区来判断是否升级成功。

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