[发明专利]提升芯片启动可靠性的方法及装置

说明书

本发明提供了一种提升芯片启动可靠性的方法及装置，所述方法包括将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；在芯片上电后，BootRoom运行；从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复；从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据。本发明的有益效果在于：避免了由于数据读取错误导致的芯片启动失败问题，提高了芯片启动的可靠性。

技术领域

本发明涉及芯片启动技术领域，尤其是指一种提升芯片启动可靠性的方法及装置。

背景技术

芯片启动一般分为三个步骤：bootrom启动，加载bootloader；运行bootloader加载固件和运行固件。一般Bootloader和固件都是存储在非易失性存储介质Nand Flash里，而由于Nand Flash的特性，当BootRom从Nand Flash里加载某个page数据的时候，可能会出现bit反转，从而导致启动失败。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种提升芯片启动可靠性的方法及装置。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：一种提升芯片启动可靠性的方法，包括，

将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；

在芯片上电后，BootRoom运行；

从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复；

从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据。

进一步的，将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中具体包括：

分别将Bootloader代码和FW代码编译生成Bootloader编译数据和FW编译数据；

分别将Bootloader编译数据和FW编译数据分成若干份有效数据；

给每份有效数据生成一个对应的校验码；

分别将Bootloader编译数据和FW编译数据及其对应的校验码写入非易失存储介质中。

进一步的，非易失存储介质中存有分成若干份的有效数据及每份对应的校验码。

进一步的，从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复具体包括：

从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据；

判断读取的Bootloader编译数据是否异常；

若正常，则运行Bootloader编译数据；

若异常，则通过校验码恢复Bootloader编译数据后运行Bootloader编译数据。

进一步的，从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据具体包括：

从非易失性存储介质中读取FW编译数据；

判断读取的FW编译数据是否异常；

若正常，则运行FW编译数据；