[发明专利]提升芯片启动可靠性的方法及装置

权利要求书

1.一种提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：包括，

将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；

在芯片上电后，BootRoom运行；

从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复；

从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据。

2.如权利要求1所述的提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中具体包括：

分别将Bootloader代码和FW代码编译生成Bootloader编译数据和FW编译数据；

分别将Bootloader编译数据和FW编译数据分成若干份有效数据；

给每份有效数据生成一个对应的校验码；

分别将Bootloader编译数据和FW编译数据及其对应的校验码写入非易失存储介质中。

3.如权利要求2所述的提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：非易失存储介质中存有分成若干份的有效数据及每份对应的校验码。

4.如权利要求1所述的提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复具体包括：

从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据；

判断读取的Bootloader编译数据是否异常；

若正常，则运行Bootloader编译数据；

若异常，则通过校验码恢复Bootloader编译数据后运行Bootloader编译数据。

5.如权利要求4所述的提升芯片启动可靠性的方法，其特征在于：从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据具体包括：

从非易失性存储介质中读取FW编译数据；

判断读取的FW编译数据是否异常；

若正常，则运行FW编译数据；

若异常，则通过校验码恢复FW编译数据后运行FW编译数据。

6.一种提升芯片启动可靠性的装置，其特征在于：包括，

编译数据处理模块，将Bootloader代码和FW代码编译后，生成对应的校验码，并将Bootloader编译数据、FW编译数据及对应的校验码写入非易失性存储介质中；

BootRoom运行模块，在芯片上电后，BootRoom运行；

BootRoom模块，从非易失性存储介质中读取Bootloader编译数据并运行，若Bootloader编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复；

Bootloader模块，从非易失性存储介质中读取FW编译数据并运行，若FW编译数据异常，则通过校验码进行数据恢复FW编译数据。

7.如权利要求6所述的提升芯片启动可靠性的装置，其特征在于：所述编译数据处理模块具体包括，

代码编译单元，用于分别将Bootloader代码和FW代码编译生成Bootloader编译数据和FW编译数据；

数据分割单元，用于分别将Bootloader编译数据和FW编译数据分成若干份有效数据；

校验码生成单元，用于给每份有效数据生成一个对应的校验码；

数据写入单元，用于分别将Bootloader编译数据和FW编译数据及其对应的校验码写入非易失存储介质中。

8.如权利要求7所述的提升芯片启动可靠性的装置，其特征在于：所述数据写入单元中，非易失存储介质中存有分成若干份的有效数据及每份对应的校验码。