[发明专利]AVO属性的分析方法、装置以及电子设备

权利要求书

1.一种AVO属性的分析方法，其特征在于，所述方法包括：

基于预设规则，建立水合物储层物理模型；

基于Brekhovskikh方程以及所述水合物储层物理模型，建立BSR正演模型；

获取数据样本，通过所述BSR正演模型对所述数据样本进行BSR正演模拟，得到BSR正演结果；

对所述BSR正演结果进行基于AVO属性的数据提取操作，得到所述BSR正演结果对应的AVO属性数据组；

将所述AVO属性数据组作为训练样本，通过预设算法对预设分析模型进行训练，得到训练后的AVO属性分析模型；

所述预设算法包括下述任意一项或多项：

随机森林算法、Adaboost算法、GBDT算法以及XGBoost算法；

利用所述AVO属性分析模型对待测BSR数据进行AVO属性分析，得到AVO属性分析结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述数据样本包含不同数值的水合物储层厚度、水合物储层孔隙度以及水合物饱和度；

所述获取数据样本，通过所述BSR正演模型对所述数据样本进行BSR正演模拟，得到BSR正演结果的步骤，包括：

基于不同数值的所述水合物储层的厚度、所述水合物储层的孔隙度以及所述水合物饱和度，通过所述BSR正演模型进行BSR正演模拟，得到预设数量的BSR正演结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述AVO属性数据组包括BSR反射系数曲线的截距值、BSR反射系数曲线的梯度值、BSR反射系数相位曲线的截距以及BSR反射系数相位曲线的梯度值；

所述对所述BSR正演结果进行基于AVO属性的数据提取操作，得到所述BSR正演结果对应的AVO属性数据组的步骤，包括：

对所述预设数量的BSR正演结果进行基于AVO属性的数据提取操作，得到所述预设数量的BSR反射系数曲线的截距值、所述预设数量的BSR反射系数曲线的梯度值、所述预设数量的BSR反射系数相位曲线的截距值以及所述预设数量的BSR反射系数相位曲线的梯度值。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述AVO属性数据组作为训练样本，通过预设算法对预设分析模型进行训练，得到训练后的AVO属性分析模型的步骤，包括：

将第一数量的所述AVO属性数据组作为训练样本，通过所述预设算法对所述预设分析模型进行训练，得到初始分析模型；

将第二数量的所述AVO属性数据组作为验证样本，对所述初始分析模型的分析功能进行验证，得到验证后的所述AVO属性分析模型；

其中，所述第一数量与所述第二数量之和等于所述预设数量。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述利用所述AVO属性分析模型对待测BSR数据进行AVO属性分析，得到AVO属性分析结果的步骤，包括：

利用所述AVO属性分析模型对所述待测BSR数据中的所述BSR反射系数曲线的截距值、所述BSR反射系数曲线的梯度值、所述BSR反射系数相位曲线的截距以及所述BSR反射系数相位曲线的梯度值进行综合分析，得到综合分析结果；

其中，所述综合分析结果包含所述待测BSR数据对应的水合物储层的厚度信息、孔隙度信息以及水合物饱和度信息。