[发明专利]全自动激光器Bar条芯片点数方法及其装置

说明书

本发明公开了一种全自动激光器Bar条芯片点数方法及其装置。本发明提供的Bar条芯片点数方法，包括获取Bar条的芯片初始数据；获取Bar条的图像信息，对图像信息进行灰度处理，得到Bar条的芯片灰度特征值，并判断Bar条两端芯片是否为有效芯片；当Bar条两端的芯片均为有效芯片时，测量Bar条两端有效芯片在Bar条长度方向的最大距离，作为Bar条有效长度；计算得到Bar条芯片数量。本申请提供的全自动激光器Bar条芯片点数方法，利用获取到的Bar条的芯片灰度特征值对Bar条两端的芯片进行判断，提高识别的准确度，减少人工在显微镜下操作带来的误判，同时简化计算过程，提高计算速度，提升工作效率。

技术领域

本发明涉及激光半导体检测的技术领域，特别涉及一种全自动激光器Bar条芯片点数方法及其装置。

背景技术

Bar条，又称为LD（laser diode）Bar条，是一种半导体激光bar条，主要应用于全固态激光器的泵浦源，将多个LD组合在一起，可以提高泵浦的功率。

在Bar条制备完成并准备出货前，需对包装盒内的Bar条条数以及Bar条所包含芯片的总颗数进行确认，现有的确认方式主要是通过人工对Bar条逐条进行清点来确定Bar条条数，并且根据每条Bar条首尾芯片的编号来计算该Bar条所含的芯片颗数，最后计算得出包装盒内的芯片总颗数，然而人工操作时需要在显微镜下查看芯片编号，人工计算速度缓慢，工作效率低下，容易对芯片产生误判，计算准确率低。

发明内容

针对上述现有技术存在的不足之处，本发明提供了一种全自动激光器Bar条芯片点数方法及其装置，主要目的在于解决现有的Bar条芯片点数方法需要人工清点，计算效率低下，计算准确率低的问题。

本发明一方面提供了一种全自动激光器Bar条芯片点数方法，包括:

获取Bar条的芯片初始数据，其中，所述芯片初始数据包括相邻两个芯片之间的缝隙距离和所述芯片的宽度；

获取所述Bar条的图像信息，对所述图像信息进行灰度处理，得到所述Bar条的芯片灰度特征值，根据所述Bar条的芯片灰度特征值判断所述Bar条两端的芯片是否为有效芯片；

当所述Bar条两端的芯片均为有效芯片时，测量所述Bar条两端的有效芯片在所述Bar条长度方向的最大距离，作为所述Bar条的有效长度；

根据所述Bar条的有效长度、所述相邻两个芯片之间的缝隙距离和所述芯片的宽度，得到所述Bar条的芯片数量。

可选的，所述获取Bar条的芯片初始数据包括：

对所述Bar条包装盒上的图形码进行识别，读取所述Bar条的芯片产品信息；

采用所述Bar条的芯片产品信息，确定所述Bar条的芯片初始数据。

可选的，所述获取所述Bar条的图像信息包括：

将所述Bar条置于检测区域内；

对所述检测区域进行照明，使得所述Bar条的芯片亮度提升；

对所述检测区域的所述Bar条的芯片进行拍照。

可选的，所述根据所述Bar条的芯片灰度特征值判断所述Bar条两端的芯片是否为有效芯片包括：

将所述Bar条两端芯片的灰度特征值与预设灰度阈值进行比对，得到比对结果；

若所述比对结果显示所述Bar条两端芯片的灰度特征值不超过所述预设灰度阈值，则所述Bar条两端的芯片均为有效芯片。

进一步的，所述根据所述Bar条的芯片灰度特征值判断所述Bar条两端的芯片是否为有效芯片还包括：

若所述比对结果显示，所述Bar条两端芯片中的一个芯片或者两个芯片的灰度特征值超过所述预设灰度阈值，则所述Bar条两端芯片中的一个芯片或者两个芯片为无效芯片；