[发明专利]集成组合件和形成集成组合件的方法在审
| 申请号: | 202180064782.3 | 申请日: | 2021-09-03 |
| 公开(公告)号: | CN116325124A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
| 发明(设计)人: | D·K·黄;J·F·克丁;R·J·希尔;S·E·西利士 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
| 主分类号: | H01L21/8234 | 分类号: | H01L21/8234 |
| 代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 丁昕伟 |
| 地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 集成 组合 形成 方法 | ||
1.一种集成组合件,其包括:
导电结构;
环状结构,所述环状结构延伸穿过所述导电结构,所述环状结构包括介电材料;以及
活性材料结构,所述活性材料结构给所述环状结构的内部周边加内衬,所述活性材料结构包括二维材料。
2.根据权利要求1所述的集成组合件,其中所述环状结构和所述活性材料结构具有位于所述导电结构的上表面上方的上表面;并且所述集成组合件进一步包括导电材料,所述导电材料位于所述环状结构和所述活性材料结构的所述上表面之上并且封盖所述活性材料结构的内部区域。
3.根据权利要求2所述的集成组合件,其包括位于所述内部区域内的空隙。
4.根据权利要求3所述的集成组合件,其中所述空隙还被所述活性材料结构的跨所述空隙的顶部延伸的区域封盖。
5.根据权利要求2所述的集成组合件,其包括位于所述内部区域内的绝缘材料。
6.根据权利要求5所述的集成组合件,其中所述绝缘材料包括二氧化硅。
7.根据权利要求5所述的集成组合件,其中所述绝缘材料包括一或多种高k组合物。
8.根据权利要求2所述的集成组合件,其中所述活性材料结构的一部分被配置为位于所述环状结构的所述上表面之上的台肩区域,并且其中所述导电材料直接抵靠所述台肩区域。
9.根据权利要求8所述的集成组合件,其中除了所述台肩区域的侧壁边缘之外,所述活性材料结构不具有暴露的侧壁边缘。
10.根据权利要求2所述的集成组合件,其中所述导电结构为第一导电结构;其中所述活性材料结构具有位于所述第一导电结构的底表面之下的底表面;并且所述集成组合件进一步包括第二导电结构,所述第二导电结构位于所述活性材料结构的所述底表面下方并且直接抵靠所述活性材料结构的所述底表面。
11.根据权利要求2所述的集成组合件,其包括与所述导电材料电耦合的存储元件。
12.根据权利要求11所述的集成组合件,其中所述存储元件为电容器。
13.根据权利要求12所述的集成组合件,其中所述电容器为铁电电容器。
14.根据权利要求12所述的集成组合件,其中所述电容器为非铁电电容器。
15.根据权利要求1所述的集成组合件,其中所述二维材料包括碳、硼、锗、硅、磷、铋、铟、钼、铂、铼、锡、钨和铪中的一或多种。
16.根据权利要求1所述的集成组合件,其中所述二维材料包括石墨烯、石墨炔、硼墨烯、锗烯、硅烯、Si2BN、锡烯、磷烯、铋烯、二硫化钼、二硒化钼、二硫化钨、二硒化钨、二硫化锡、二硫化铼、二硫化铟和二硫化铪中的一或多种。
17.根据权利要求1所述的集成组合件,其中所述二维材料包括由1个至10个单独的层组成的堆叠。
18.根据权利要求1所述的集成组合件,其中所述二维材料包括的厚度在约0.5nm至约5nm的范围内。
19.根据权利要求1所述的集成组合件,其中所述二维材料是基本上完全单晶的。
20.根据权利要求1所述的集成组合件,其中所述活性材料结构为容器形状的。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





