[实用新型]改善晶圆对准的托盘装置有效
| 申请号: | 202123425674.0 | 申请日: | 2021-12-31 | 
| 公开(公告)号: | CN216818309U | 公开(公告)日: | 2022-06-24 | 
| 发明(设计)人: | 李得平;王明山;陈亮 | 申请(专利权)人: | 盛吉盛(宁波)半导体科技有限公司 | 
| 主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/673 | 
| 代理公司: | 上海老虎专利代理事务所(普通合伙) 31434 | 代理人: | 葛瑛 | 
| 地址: | 315100 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 改善 对准 托盘 装置 | ||
本实用新型公开了改善晶圆对准的托盘装置,包括旋转顶椎、托盘以及晶圆,所述托盘位于旋转顶椎的顶部,所述托盘表面的中心开设有贯穿的托槽,所述托槽的底部固定连接有覆盖环,所述覆盖环的中心开设有中心孔,所述托槽的中心设有晶圆,所述旋转顶椎的直径小于中心孔的直径。本实用新型通过增大托槽内壁的倾斜角,方便在传送的过程中对晶圆快速定位,保证晶圆与托盘同心,方便对晶圆的缺口进行检测,大大减小了检测的故障率。
技术领域
本实用新型涉及晶圆加工技术领域,具体为改善晶圆对准的托盘装置。
背景技术
现有设备关于晶圆在托盘上面有一定的公差,这种公差在晶圆在托盘上完美同心圆情况下边距大概在5mm,晶圆靠自动机械臂传送,而且经过很较多传送站点,要保证晶圆完美传送到托盘上面,就要保证前面所有晶圆经过传送站点都是完美位置,不能有偏差,一旦有偏差就会造成晶圆在托盘上面位置不是同心圆,就会造成因为位置问题导致晶圆在orient过程中无法找到notch口问题。为此,需要设计一种新的技术方案给予解决。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供改善晶圆对准的托盘装置,解决了现有技术中晶圆传送时发生偏移而导致检测不准确的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:改善晶圆对准的托盘装置,包括旋转顶椎、托盘以及晶圆,所述托盘位于旋转顶椎的顶部,所述托盘表面的中心开设有贯穿的托槽,所述托槽的底部固定连接有覆盖环,所述覆盖环的中心开设有中心孔,所述托槽的中心设有晶圆,所述旋转顶椎的直径小于中心孔的直径。
作为上述技术方案的改进,所述托槽的内壁设有倾斜状,所述托槽的倾斜角度为75°。
作为上述技术方案的改进,所述晶圆的边缘与托槽之间的间距为2mm。
作为上述技术方案的改进,所述中心孔的直径小于托槽的直径。
作为上述技术方案的改进,所述托槽的内壁开设有环形分布的滑槽,所述滑槽的内部嵌入连接有嵌入条。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
本实用新型通过增大托槽内壁的倾斜角,方便在传送的过程中对晶圆快速定位,保证晶圆与托盘同心,方便对晶圆的缺口进行检测,大大减小了检测的故障率。
附图说明
图1为本实用新型所述改善晶圆对准的托盘装置结构示意图;
图2为本实用新型所述托盘结构示意图;。
图中:旋转顶椎-1,托盘-2,晶圆-3,托槽-4,覆盖环-5,中心孔-6,滑槽-7,嵌入条-8。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
请参阅图1-2,本实用新型提供一种技术方案:改善晶圆对准的托盘装置,包括旋转顶椎1、托盘2以及晶圆3,所述托盘2位于旋转顶椎1的顶部,所述托盘2表面的中心开设有贯穿的托槽4,所述托槽4的底部固定连接有覆盖环5,所述覆盖环5的中心开设有中心孔6,所述托槽4的中心设有晶圆3,所述旋转顶椎1的直径小于中心孔6的直径。
进一步改进地,所述托槽4的内壁设有倾斜状,所述托槽4的倾斜角度为75°,通过在托槽4的内壁设有75°的倾斜角,相较于传统的45°倾斜角,便于对晶圆3快速进行自动同心较位,减小晶圆3输送中的误差。
进一步改进地,所述晶圆3的边缘与托槽4之间的间距为2mm,通过减小托槽4与晶圆3之间的公差,提高了晶圆3对中的准确性,便于红外线orient装置对晶圆3的边缘进行检测。
进一步改进地,所述中心孔6的直径小于托槽4的直径,通过在覆盖环5的中心设有直径小于托槽4的直径,方便对晶圆3进行支撑,提高晶圆3运输的稳定性。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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