[实用新型]划痕检测及修复一体设备

说明书

一种划痕检测及修复一体设备，包括传输机构、检测机构、修复机构、上料机构和下料机构，检测机构、修复机构、上料机构和下料机构均设置于传输机构；传输机构延伸布置，上料机构和下料机构分别位于传输机构的两端，沿传输机构的延伸方向，检测机构和修复机构位于上料机构和下料机构之间，检测机构相对修复机构靠近上料机构；传输机构包括第一轨道和第二轨道，第一轨道和第二轨道间隔设置；上料机构、下料机构和检测机构设置于第一轨道，上料机构和下料机构分别位于第一轨道的两端，检测机构位于上料机构和下料机构之间；修复机构设置于第二轨道；划痕检测及修复一体设备包括搬运机构，搬运机构带动胶体在第一轨道和第二轨道之间来回切换。

技术领域

本实用新型涉及半导体封装技术领域，具体涉及一种划痕检测及修复一体设备。

背景技术

在半导体封装技术领域中，封装胶体在生产制作过程中容易受到外力因素从而导致被划伤，因此，在封装胶体制作完成前需要对其进行划痕检测并修复。现有的针对封装胶体的划痕检测及修复通常是通过人工完成，然而，人工检测容易出现漏检或者错检的风险，并且人工修复的过程容易出现用力过大导致产品报废或者用力过轻导致修复效果差的风险。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种划痕检测及修复一体设备，以有利于实现替代人工操作从而提高划痕检测效率及修复效果。

为实现上述实用新型目的之一，本实用新型一实施方式提供了一种划痕检测及修复一体设备，其中，包括传输机构、检测机构、修复机构、上料机构和下料机构，所述检测机构、所述修复机构、所述上料机构和所述下料机构均设置于所述传输机构；所述传输机构延伸布置，所述上料机构和所述下料机构分别位于所述传输机构的两端，沿所述传输机构的延伸方向，所述检测机构和所述修复机构位于所述上料机构和所述下料机构之间，所述检测机构相对所述修复机构靠近所述上料机构；

所述传输机构包括第一轨道和第二轨道，所述第一轨道和所述第二轨道间隔设置；所述上料机构、所述下料机构和所述检测机构设置于所述第一轨道，所述上料机构和所述下料机构分别位于所述第一轨道的两端，所述检测机构位于所述上料机构和所述下料机构之间；所述修复机构设置于所述第二轨道；所述划痕检测及修复一体设备包括搬运机构，所述搬运机构带动胶体在所述第一轨道和所述第二轨道之间来回切换。

作为本实用新型一实施方式的进一步改进，所述划痕检测及修复一体设备还包括复检机构，所述复检机构设置于所述第二轨道，沿所述传输机构的延伸方向，所述复检机构位于所述修复机构和所述下料机构之间。

作为本实用新型一实施方式的进一步改进，所述传输机构还包括第三轨道，所述第三轨道分别与所述第一轨道和所述第二轨道间隔设置；所述搬运机构带动胶体在所述第一轨道、所述第二轨道和所述第三轨道之间来回切换。

作为本实用新型一实施方式的进一步改进，所述搬运机构包括搬运臂和吸盘，所述吸盘活动连接于所述搬运臂，所述搬运臂带动所述吸盘在所述传输机构的上方移动，所述吸盘能够吸取或释放胶体。

作为本实用新型一实施方式的进一步改进，所述修复机构包括喷墨组件、擦除组件和清洁组件，所述喷墨组件、所述擦除组件和所述清洁组件并列设置于所述第二轨道；沿所述传输机构的延伸方向，所述擦除组件位于所述喷墨组件和所述清洁组件之间，所述喷墨组件相对所述清洁组件靠近所述检测机构。

作为本实用新型一实施方式的进一步改进，所述检测机构包括第一箱体、第一摄像组件、第一光圈组件和第一承载组件；

所述第一摄像组件包括第一摄像支架和第一摄像头，所述第一摄像头通过所述第一摄像支架固定于所述第一箱体的内顶壁，所述第一摄像头用于拍照检测胶体划痕；所述第一摄像组件还包括控制储存模块，所述控制储存模块能够记录并储存胶体的划痕二维坐标范围；

所述第一光圈组件包括第一光圈支架和第一光圈，所述第一光圈通过所述第一光圈支架固定于所述第一箱体的内侧壁，所述第一光圈用于提供光源以方便拍摄；