[实用新型]一种单晶硅棒自动检测系统有效

专利信息
申请号: 202123053322.7 申请日: 2021-12-07
公开(公告)号: CN216847526U 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 潘坤;郭右利 申请(专利权)人: 大连耐视科技有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95;G01N21/01
代理公司: 大连大工智讯专利代理事务所(特殊普通合伙) 21244 代理人: 崔雪
地址: 116000 辽宁省大连市高新技*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 单晶硅 自动检测 系统
【说明书】:

实用新型涉及视觉图像分析技术领域,提供一种单晶硅棒自动检测系统,所述系统包括:高精度移动模组、采集系统、视觉控制器、可编程控制器和移动滑台;所述高精度移动模组沿待检测的硅棒的长度方向布置,所述高精度移动模组上滑动设置移动滑台;所述高精度移动模组外接可编程控制器;所述移动滑台上安装有采集系统;所述采集系统外接视觉控制器;所述采集系统,包括:采集系统安装板、晶线检测单元和硅棒尺寸检测单元;所述采集系统安装板竖直设置在移动滑台上,所述采集系统安装板上开设用于使硅棒通过的开口;所述采集系统安装板上设置晶线检测单元和硅棒尺寸检测单元。本实用新型能实现硅棒的自动化检测,提高生产效率、降低生产成本。

技术领域

本实用新型涉及视觉图像分析技术领域,尤其涉及一种单晶硅棒自动检测系统。

背景技术

在光伏领域的硅棒完成拉制之后,硅棒的长度通常为1-7米,工人需要根据其几何尺寸以及晶线的状态进行分段划分,分段数据需要被提供给切断机使用,以便对硅棒进行切断处理。

截止到当前,光伏行业内都是通过人工使用卷尺和卡尺等工具,对硅棒进行长度和直径的测量,再进行分段划分,效率极其低下,测量误差较大,且直径测量只能取几个点进行,无法做到全长度范围内的测量。

同时,硅棒表面的四条晶线特征不明显,无法用一种自动检测的方法来有效检测,人工肉眼加上卷尺检测的方式很容易产生较大的测量误差,导致硅棒切断长度不合适甚至导致废料,严重影响实际生产,生产效率较低、成本也较高。

实用新型内容

本实用新型主要解决现有技术的硅棒检测通过人工使用卷尺和卡尺等工具,对硅棒进行长度和直径的测量,再进行分段划分,效率极其低下,测量误差较大等技术问题,提出一种单晶硅棒自动检测系统,以实现硅棒的自动化检测,提高生产效率、降低生产成本和误差。

本实用新型提供了一种单晶硅棒自动检测系统,包括:高精度移动模组1、采集系统3、视觉控制器4、可编程控制器5和移动滑台6;

所述高精度移动模组1沿待检测的硅棒11的长度方向布置,所述高精度移动模组1上滑动设置移动滑台6;所述高精度移动模组1外接可编程控制器5;

所述移动滑台6上安装有采集系统3;所述采集系统3外接视觉控制器4;

所述采集系统3,包括:采集系统安装板、晶线检测单元和硅棒尺寸检测单元;

所述采集系统安装板竖直设置在移动滑台6上,所述采集系统安装板上开设用于使硅棒11通过的开口;

所述采集系统安装板上设置晶线检测单元和硅棒尺寸检测单元;

所述晶线检测单元,包括:多组第一工业线阵相机7和第一光源8;多组第一工业线阵相机7和第一光源8依次设置在开口的上方,并使第一工业线阵相机7和第一光源8均朝向开口;

所述硅棒尺寸检测单元,包括:第一尺寸检测结构和/或第二尺寸检测结构;

所述第一尺寸检测结构,包括:第二光源10和两个第二工业线阵相机9;所述第二光源10设置在开口的一侧,两个第二工业线阵相机9对应设置在开口的另一侧;两个第二工业线阵相机9上下对应设置;

所述第二尺寸检测结构,包括:至少一组激光测径仪发射器13和激光测径仪接收器14;所述激光测径仪发射器13设置在开口的一侧,所述激光测径仪接收器14设置在开口的另一侧。

优选的,所述移动滑台6上通过支撑立柱2安装有采集系统3。

优选的,所述第一工业线阵相机7通过相机支架安装在采集系统安装板上,且第一工业线阵相机7与采集系统安装板非平行;

每个第一工业线阵相机7的镜头高出对应的第一光源8。

优选的,所述晶线检测单元,包括:三组第一工业线阵相机7和第一光源8;

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