[实用新型]一种半导体测试模块

说明书

本实用新型提供了一种半导体测试模块，包括模块支架，其特征在于，所述模块支架上安装有测试针模块，模块支架还与一调节组件相连，测试针模块包括测试针、滑块、滑块座、限位块和底座，底座安装在模块支架上，滑块座安装在底座上，滑块能上下移动地设置在滑块座上，滑块还与一弹性复位件连接，限位块连接在滑块上，限位块上具有物料放置槽，测试针安装在底座上。

技术领域

本实用新型属于半导体技术领域，涉及一种半导体测试模块。

背景技术

半导体元件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子元件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换。在半导体元件测试分选过程中，测试模块举足轻重，而保证测试过程中产品的精确定位尤为重要，因此，需要设计一种测试模块，以精确定位产品，同时也需方便使用。

发明内容

本实用新型的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种半导体测试模块。

本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现：一种半导体测试模块，包括模块支架，其特征在于，所述模块支架上安装有测试针模块，模块支架还与一调节组件相连，测试针模块包括测试针、滑块、滑块座、限位块和底座，底座安装在模块支架上，滑块座安装在底座上，滑块能上下移动地设置在滑块座上，滑块还与一弹性复位件连接，限位块连接在滑块上，限位块上具有物料放置槽，测试针安装在底座上。

所述测试针模块还包括安装座和盖板，安装座安装在底座上，安装座上具有用于安装测试针的安装槽，盖板安装在安装座上，盖板上还具有与测试针相配合的定位凸块。

所述调节组件包括XY轴调节板、Z轴立柱和Z轴调节螺丝，Z轴立柱安装在XY轴调节板上，模块支架滑动连接在Z轴立柱上，模块支架上安装有连接件，Z轴调节螺丝螺纹连接在连接件上，Z轴调节螺丝端部与Z轴立柱相抵靠。

所述Z轴立柱上具有条形孔，模块支架上具有螺纹孔，锁紧螺栓穿过条形孔与螺纹孔螺纹连接。

所述模块支架一侧具有呈凸出的导向条，模块支架另一侧具有导向片，导向条与导向片两者之间形成用于与Z轴立柱滑动连接的导向部。

所述Z轴立柱安装在连接座上，连接座安装在XY轴调节板上。

所述滑块上还具有用于限制限位块的限制部。

所述限位块粘连在滑块上。

所述限位块的选材为陶瓷。

与现有技术相比，本半导体测试模块具有该优点：

其一，测试准确；该模块通过限位块将物料精确定位，使测试更可靠。

其二，适用范围广；该模块通过改动限位块尺寸可适应各种物料。

其三，方便更换测试针；该模块通过盖板可快速简单地更换测试针，且不影响测试精度，无需额外调试。

附图说明

图1是本实用新型的立体结构示意图。

图2是本实用新型中测试针模块的立体结构示意图。

图3是本实用新型中测试针模块的爆炸图。

图4是本实用新型中拆去部分的立体结构示意图。

图5是本实用新型中安装座的立体结构示意图。

图6是本实用新型中盖板的立体结构示意图。

图7是本实用新型中模块支架处的立体结构示意图。