[实用新型]一种半导体测试模块有效
| 申请号: | 202122614778.X | 申请日: | 2021-10-28 |
| 公开(公告)号: | CN216052039U | 公开(公告)日: | 2022-03-15 |
| 发明(设计)人: | 丘劭晖;杨洁;吕思勇 | 申请(专利权)人: | 浙江庆鑫科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 浙江永航联科专利代理有限公司 33304 | 代理人: | 俞培锋 |
| 地址: | 314400 浙江省嘉兴市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 半导体 测试 模块 | ||
1.一种半导体测试模块,包括模块支架(2),其特征在于,所述模块支架(2)上安装有测试针模块(1),模块支架(2)还与一调节组件相连,测试针模块(1)包括测试针(1-5)、滑块(1-6)、滑块座(1-8)、限位块(1-3)和底座(1-1),底座(1-1)安装在模块支架(2)上,滑块座(1-8)安装在底座(1-1)上,滑块(1-6)能上下移动地设置在滑块座(1-8)上,滑块(1-6)还与一弹性复位件(1-2)连接,限位块(1-3)连接在滑块(1-6)上,限位块(1-3)上具有物料放置槽(1-3x),测试针(1-5)安装在底座(1-1)上。
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试模块,其特征在于,所述测试针模块(1)还包括安装座(1-7)和盖板(1-4),安装座(1-7)安装在底座(1-1)上,安装座(1-7)上具有用于安装测试针(1-5)的安装槽(1-7x),盖板(1-4)安装在安装座(1-7)上,盖板(1-4)上还具有与测试针(1-5)相配合的定位凸块(1-4x)。
3.根据权利要求1或2所述的一种半导体测试模块,其特征在于,所述调节组件包括XY轴调节板(5)、Z轴立柱(4)和Z轴调节螺丝(3),Z轴立柱(4)安装在XY轴调节板(5)上,模块支架(2)滑动连接在Z轴立柱(4)上,模块支架(2)上安装有连接件(8),Z轴调节螺丝(3)螺纹连接在连接件(8)上,Z轴调节螺丝(3)端部与Z轴立柱(4)相抵靠。
4.根据权利要求3所述的一种半导体测试模块,其特征在于,所述Z轴立柱(4)上具有条形孔,模块支架(2)上具有螺纹孔,锁紧螺栓(9)穿过条形孔与螺纹孔螺纹连接。
5.根据权利要求3或4所述的一种半导体测试模块,其特征在于,所述模块支架(2)一侧具有呈凸出的导向条(2y),模块支架(2)另一侧具有导向片(2x),导向条(2y)与导向片(2x)两者之间形成用于与Z轴立柱(4)滑动连接的导向部。
6.根据权利要求3所述的一种半导体测试模块,其特征在于,所述Z轴立柱(4)安装在连接座(10)上,连接座(10)安装在XY轴调节板(5)上。
7.根据权利要求1所述的一种半导体测试模块,其特征在于,所述滑块(1-6)上还具有用于限制限位块(1-3)的限制部(1-6x)。
8.根据权利要求1所述的一种半导体测试模块,其特征在于,所述限位块(1-3)粘连在滑块(1-6)上。
9.根据权利要求1所述的一种半导体测试模块,其特征在于,所述限位块(1-3)的选材为陶瓷。
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