[实用新型]半导体电路和电子产品有效
申请号: | 202122575557.6 | 申请日: | 2021-10-26 |
公开(公告)号: | CN216213384U | 公开(公告)日: | 2022-04-05 |
发明(设计)人: | 冯宇翔;左安超;谢荣才;张土明 | 申请(专利权)人: | 广东汇芯半导体有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31 |
代理公司: | 深圳市辰为知识产权代理事务所(普通合伙) 44719 | 代理人: | 陈建昌 |
地址: | 528000 广东省佛山市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 电路 电子产品 | ||
1.一种半导体电路,其特征在于,包括:
电路基板;
绝缘层,设置于所述电路基板的表面;
电路布线层,设于所述绝缘层背离所述电路基板的表面;
多个电路元件,设于所述电路布线层背离所述绝缘层的表面;
多个引脚,多个所述引脚设于所述电路基板的一侧,且与所述电路布线层电性连接;
密封层,所述密封层包裹于所述电路元件和所述电路基板,所述引脚的一端从所述密封层的一侧露出;
连接层,所述连接层连接于所述密封层的端部,所述连接层设有装配孔,以供紧固件插设,所述连接层的厚度小于所述密封层的厚度,且所述连接层与所述密封层围合形成有避让空间,以容纳紧固件。
2.如权利要求1所述的半导体电路,其特征在于,所述连接层包括第一连接层和第二连接层,所述第一连接层和第二连接层分别连接于所述密封层的两对两端,所述第一连接层和第二连接层分别设有所述装配孔。
3.如权利要求1所述的半导体电路,其特征在于,所述密封层的底面与所述连接层的底面平齐,所述密封层的顶面凸出于所述连接层的顶面。
4.如权利要求1所述的半导体电路,其特征在于,所述密封层的顶面与底面之间的间距为L1,所述连接层的顶面与底面之间的间距为L2,所述L1与L2的比值为2:1-2.5:1。
5.如权利要求1所述的半导体电路,其特征在于,所述半导体电路还包括键合线,所述键合线设于任意两个所述电路元件之间,和/或设于所述电路元件与所述电路布线层之间,所述密封层包裹所述键合线,且所述密封层的顶面与所述键合线的顶部之间的间距L3为0.4mm-0.6mm。
6.如权利要求1所述的半导体电路,其特征在于,所述密封层与所述连接层一体成型。
7.如权利要求1所述的半导体电路,其特征在于,所述密封层包括主体段和过渡段,所述过渡段连接所述主体段和所述连接层,所述过渡段的厚度小于所述主体段的厚度,且大于所述连接层的厚度。
8.如权利要求7所述的半导体电路,其特征在于,所述主体段的端面包括倾斜面,所述倾斜面自所述主体段的顶部延伸至所述过渡段的顶部。
9.一种电子产品,其特征在于,所述电子产品包括如权利要求1-8中任意一项所述的半导体电路。
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