[实用新型]一种石英晶体总检屏蔽测试装置

说明书

本实用新型涉及电子、石英电子制造技术领域，具体涉及一种石英晶体总检屏蔽测试装置。提供一种小型化和自动化的用于小批量的散装石英晶片晶振进行自动识别、检测的石英晶体总检屏蔽测试装置。包括旋转检测台，所述旋转检测台包括驱动装置、校照器载放盘、晶振载盘，校照器载放盘的中心设置晶振载盘的转动轴，转动轴上套合固定设置晶振载盘，设置在校照器载放盘底部的驱动装置利用自身的驱动转轴驱动设置在校照器载放盘上方的晶振载盘进行转动，所述校照器载放盘边沿设置屏蔽校照头，作为匹配在屏蔽校照头设置位置，其顶部的校照器载放盘设置有晶振屏蔽盘，转动轴的顶部还设置有悬挂盘，悬挂盘悬置有连动机械支架，连动机械支架设置有晶振载测器。

技术领域

本实用新型涉及电子、石英电子制造技术领域，具体涉及一种石英晶体总检屏蔽测试装置。

背景技术

随着石英晶体行业的飞速发展，产品类型也越来越趋于小型化，目前对石英晶片晶振的外观屏蔽检测处于直接观测或用放大镜进行观测。由于存在主观因素，每个人的检验标准会有所不同。且随着产品的小型化，观测难度越来越大，业内一般采用屏蔽式的针脚快速测试方法，如专利号为CN201720979542.7一种用于晶振测试的欧姆校正装置，包括工作台和测试装置，所述测试装置位于工作台的上方，测试装置包括探针，所述工作台上放置有两个欧姆校正台，两个欧姆校正台上分别放置有零欧姆PCB板和五十欧姆PCB板，测试装置通过十字型导轨与工作台相连，十字型导轨包括水平导轨和竖直导轨，竖直导轨上设置有滑槽。本实用新型结构简单、使用方便、校正准确。

实用新型内容

为了解决现有技术存在的问题，提供一种小型化和自动化的用于小批量的散装石英晶片晶振进行自动识别、检测的石英晶体总检屏蔽测试装置。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案：一种石英晶体总检屏蔽测试装置，包括旋转检测台，其中：所述旋转检测台包括驱动装置、校照器载放盘、晶振载盘，校照器载放盘的中心设置晶振载盘的转动轴，转动轴上套合固定设置晶振载盘，设置在校照器载放盘底部的驱动装置利用自身的驱动转轴驱动设置在校照器载放盘上方的晶振载盘进行转动，所述校照器载放盘边沿设置屏蔽校照头，作为匹配在屏蔽校照头设置位置，其顶部的校照器载放盘设置有晶振屏蔽盘，转动轴的顶部还设置有悬挂盘，悬挂盘悬置有连动机械支架，连动机械支架设置有晶振载测器；晶振载测器、晶振屏蔽盘、屏蔽校照头设置在同一纵向轴线上。将晶振手工或机械手自动放置在晶振载测器，晶振载测器的电参数测试头和阻抗测试头分别对晶振进行检查，如果检测没问题则整个晶振载盘转动至操作员位置或取件机械手安装位置，取走晶振；如果有问题检测如果通过，比如晶振放置位置不正确或晶振本身质量问题，则进行检查程序，由此检测速度高，能通过快速晶振载盘来快速的使得晶振载测器进行对照检测，并且在检测的过程中就完成电参数测试头和阻抗测试头的两种检测流程；检测准确度高，能快速的检测出是晶振是放置检测位置错误导致的错误检测还是真正的本身质量问题。

作为优选，所述旋转检测台侧旁还设置取件机械手和放件机械手。取件机械手和放件机械手能加快自动化和正确率，增加检测效率，增加推广应用范围。

作为优选，所述连动机械支架包括纵向设置的升降架、升降架上连接的左右移动架，左右移动架上悬置设置的晶振载测器。本结构可以比较细致的调节晶振载测器的空间位置，通过升降架调节上下位置，通过左右移动架调节左右位置。

作为优选，所述校照器载放盘上只放置1只屏蔽校照头，屏蔽校照头为CCD工业摄像头。只需要1只即可完成对照校对工作，比较节省相关制作成本。

作为优选，所述屏蔽校照头上设置两只CCD工业摄像头。这样对应晶振载测器可以同时检测两只晶振。

作为优选，所述晶振载测器包括载架、载台、测试器、电参数测试头和阻抗测试头，载架纵向设置，底部横向设置载台，载台头端设置测试器，测试器后方设置电参数测试头和阻抗测试头，电参数测试头和阻抗测试头电连接测试器。电参数测试头和阻抗测试头给予和收取测试器来回的信号来检测晶振的质量，载架用来悬置支撑和调节距离。