[实用新型]一种石英晶体总检屏蔽测试装置

权利要求书

1.一种石英晶体总检屏蔽测试装置，包括旋转检测台，其特征是：所述旋转检测台包括驱动装置、校照器载放盘、晶振载盘，校照器载放盘的中心设置晶振载盘的转动轴，转动轴上套合固定设置晶振载盘，设置在校照器载放盘底部的驱动装置利用自身的驱动转轴驱动设置在校照器载放盘上方的晶振载盘进行转动，所述校照器载放盘边沿设置屏蔽校照头，作为匹配在屏蔽校照头设置位置，其顶部的校照器载放盘设置有晶振屏蔽盘，转动轴的顶部还设置有悬挂盘，悬挂盘悬置有连动机械支架，连动机械支架设置有晶振载测器；晶振载测器、晶振屏蔽盘、屏蔽校照头设置在同一纵向轴线上。

2.根据权利要求1所述的一种石英晶体总检屏蔽测试装置，其特征是：所述连动机械支架包括纵向设置的升降架、升降架上连接的左右移动架，左右移动架上悬置设置的晶振载测器。

3.根据权利要求1所述的一种石英晶体总检屏蔽测试装置，其特征是：所述校照器载放盘上只放置1只屏蔽校照头，屏蔽校照头为CCD工业摄像头。

4.根据权利要求1或3所述的一种石英晶体总检屏蔽测试装置，其特征是：所述屏蔽校照头上设置两只CCD工业摄像头。

5.根据权利要求1或2所述的一种石英晶体总检屏蔽测试装置，其特征是：所述晶振载测器包括载架、载台、测试器、电参数测试头和阻抗测试头，载架纵向设置，底部横向设置载台，载台头端设置测试器，测试器后方设置电参数测试头和阻抗测试头，电参数测试头和阻抗测试头电连接测试器。

6.根据权利要求1所述的一种石英晶体总检屏蔽测试装置，其特征是：所述晶振屏蔽盘设置对照窗，且对照窗底部的晶振载盘对应位置设置对照孔。

7.根据权利要求1或3所述的一种石英晶体总检屏蔽测试装置，其特征是：所述校照器载放盘、晶振载盘直径大小一致，或、晶振载盘直径小于校照器载放盘。