[实用新型]PBGA老化测试插座有效
| 申请号： | 202122523578.3 | 申请日： | 2021-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN216052053U | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 周勇华;王永;仇中燕 | 申请（专利权）人： | 苏州擎星骐骥科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 江苏圣典律师事务所 32237 | 代理人： | 贺翔 |
| 地址： | 210528 江苏省苏州市中国（江苏）自由贸易试验区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | pbga 老化 测试 插座 | ||
1.PBGA老化测试插座，其特征在于：包括弹簧探针（1）、芯片测试插座基体（2）、探针支撑板（3）、芯片测试插座垫板（11）和芯片测试插座密封盖（12）；所述探针支撑板（3）设置在芯片测试插座基体（2）底面，芯片测试插座垫板（11）设置在芯片测试插座基体（2）顶面，芯片测试插座密封盖（12）与芯片测试插座垫板（11）相配合使用，弹簧探针（1）设置在芯片测试插座基体（2）内且与探针支撑板（3）接触。
2.根据权利要求1所述的PBGA老化测试插座，其特征在于：所述探针支撑板（3）四角内设置有第一螺丝孔（13）、第一平头螺丝孔（6），芯片测试插座基体（2）四角内设置有第二螺丝孔（15）、第二平头螺丝孔（14），芯片测试插座基体（2）、探针支撑板（3）之间通过内六角螺丝（4）、六角螺母（7）、平头螺丝（9）固定连接。
3.根据权利要求1所述的PBGA老化测试插座，其特征在于：所述PBGA老化测试插座，还包括设置在芯片测试插座基体（2）、探针支撑板（3）之间且与平头螺丝（9）相配合使用牙套（8）。
4.根据权利要求3所述的PBGA老化测试插座，其特征在于：所述PBGA老化测试插座，还包括设置在芯片测试插座基体（2）上且与芯片测试插座密封盖（12）相配合使用的盖板（10）。
5.根据权利要求4所述的PBGA老化测试插座，其特征在于：所述PBGA老化测试插座，还包括设置在盖板（10）内设置有通孔（16），其中，盖板（10）设置为正方形板式结构。
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