[实用新型]一种芯片测试座

权利要求书

1.一种芯片测试座，其特征在于，包括：

测试探针，所述测试探针用于连接芯片(800)的引脚，所述测试探针包括至少一个接地探针(110)和至少一个信号探针(120)；

金属基座(200)，所述金属基座(200)上设置有与所述接地探针(110)一一对应设置的接地针腔孔(240)和与所述信号探针(120)一一对应设置的信号针腔孔(250)，所述接地探针(110)插接于所述接地针腔孔(240)内，所述信号探针(120)插接于所述信号针腔孔(250)内，所述金属基座(200)与所述接地探针(110)电连接，且所述金属基座(200)接地；

第一绝缘定位组件(300)，设置于所述金属基座(200)上，所述第一绝缘定位组件(300)能防止所述信号探针(120)与所述金属基座(200)接触。

2.根据权利要求1所述的芯片测试座，其特征在于，所述第一绝缘定位组件(300)包括：

第一绝缘框(310)，所述第一绝缘框(310)设置于所述金属基座(200)的底面上，所述第一绝缘框(310)上开设有与所述信号针腔孔(250)一一对应设置的第一通孔(311)；

第一绝缘套(320)，所述第一绝缘套(320)设置于所述第一通孔(311)内，且所述第一绝缘套(320)套接于所述信号探针(120)背向所述金属基座(200)顶面的端部上。

3.根据权利要求2所述的芯片测试座，其特征在于，所述第一通孔(311)为阶梯孔，所述第一绝缘套(320)的外侧壁的形状为与所述第一通孔(311)匹配贴合的阶梯状，且所述第一通孔(311)的大端朝向所述金属基座(200)。

4.根据权利要求2所述的芯片测试座，其特征在于，所述第一绝缘定位组件(300)还包括：

第二绝缘框(330)，所述第二绝缘框(330)设置于所述金属基座(200)的顶面上，所述第二绝缘框(330)上开设有与所述信号针腔孔(250)一一对应设置的第二通孔(331)；

第二绝缘套(340)，所述第二绝缘套(340)设置于所述第二通孔(331)内，且所述第二绝缘套(340)套接于所述信号探针(120)背向所述金属基座(200)底面的端部上。

5.根据权利要求4所述的芯片测试座，其特征在于，所述金属基座(200)顶部设置有凹槽(211)，所述第二绝缘框(330)设置于所述凹槽(211)内，所述信号针腔孔(250)内沿孔壁周向设置有第一凸起(251)，所述第二绝缘套(340)的外侧壁为阶梯状，所述第二绝缘套(340)的小端依次穿设于所述信号针腔孔(250)和所述第二通孔(331)内，所述第二绝缘套(340)的阶梯面抵靠所述第一凸起(251)。

6.根据权利要求1所述的芯片测试座，其特征在于，所述金属基座(200)上设置有第一定位部(230)，所述第一定位部(230)用于固定所述接地探针(110)，所述金属基座(200)通过所述第一定位部(230)与所述接地探针(110)电连接。

7.根据权利要求6所述的芯片测试座，其特征在于，所述第一定位部(230)包括设置于所述接地针腔孔(240)两端的第二凸起(231)，所述第二凸起(231)设置于所述接地针腔孔(240)内且沿所述接地针腔孔(240)的孔壁周向设置，所述接地探针(110)两侧端部侧壁分别与相对应的所述第二凸起(231)贴合。

8.根据权利要求1至7任一项所述的芯片测试座，其特征在于，还包括设置于所述金属基座(200)上的导向板(400)，所述导向板(400)上设置有导向孔(410)，所述芯片(800)能穿设导向孔(410)以使所述引脚抵靠所述测试探针。

9.根据权利要求1至7任一项所述的芯片测试座，其特征在于，金属基座(200)包括上基座(210)和与所述上基座(210)连接的下基座(220)。

10.根据权利要求1至7任一项所述的芯片测试座，其特征在于，所述金属基座(200)的表面设置有镀金层。