[实用新型]一种半导体制冷器件分类设备的定位装置

说明书

本实用新型公开了一种半导体制冷器件分类设备的定位装置，包括定位座、第一限位组件和第二限位组件，定位座设有容纳位，且容纳位设有相邻的第一开边和第二开边；第一限位组件包括可位置移动的第一挡板，第一挡板可靠近和远离第一开边，第二限位组件包括可位置移动的第二挡板，第二挡板可靠近和远离第二开边，容纳位、第一挡板和第二挡板用于围成容纳半导体制冷器件的容纳腔。本技术方案提出的一种半导体制冷器件分类设备的定位装置，有效降低人为因素对半导体制冷器件的电性参数检测结果的干扰，解决现有利用人工方式对半导体制冷器件进行检测的过程中，因无法对半导体制冷器件进行定位而导致的误判率高的技术问题。

技术领域

本实用新型涉及半导体制冷器件自动生产线技术领域，尤其涉及一种半导体制冷器件分类设备的定位装置。

背景技术

半导体制冷器件是利用半导体材料的珀尔帖效应制成的、可以产生制冷、或制热作用的芯片，具有体积小、结构紧凑、制冷量控制方便等特点，在小型制冷如红酒冷藏柜、汽车用冷热两用箱、电子冰淇淋机等产品中得到了广泛的应用。

半导体制冷器件包括第一基板、第二基板和设置在第一基板与第二基板之间的晶粒。半导体制冷器件在装配过程中，通常会由于晶粒制备工艺以及半导体制冷器件装配工艺的影响，造成半导体制冷器件的电性参数存在差异，即导致半导体制冷器件的实际电性参数与理论电性参数存在误差。而不同的电性参数的半导体制冷器件所适用的应用场景有所不同，若忽略半导体制冷器件的实际应用参数，则会影响半导体制冷器件的工作效率，以及缩短其使用寿命。

现有采用人工方式对半导体制冷器件进行检测的过程中，时常会发生由于半导体制冷器件与检测设备之间的接触不良而导致的无法检测或检测不准的情况，或存在其他人为因素的干扰而造成对半导体制冷器件的误判，若将半导体制冷器件应用于与其电性参数不匹配的应用场景中，则会影响半导体制冷器件的工作效率，以及缩短其使用寿命。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提出一种半导体制冷器件分类设备的定位装置，有效降低人为因素对半导体制冷器件的电性参数检测结果的干扰，解决现有利用人工方式对半导体制冷器件进行检测的过程中，因无法对半导体制冷器件进行定位而导致的误判率高的技术问题，以克服现有技术中的不足之处。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种半导体制冷器件分类设备的定位装置，包括定位座、第一限位组件和第二限位组件，所述定位座设有容纳位，且所述容纳位设有相邻的第一开边和第二开边；

所述第一限位组件包括可位置移动的第一挡板，所述第一挡板可靠近和远离所述第一开边，所述第二限位组件包括可位置移动的第二挡板，所述第二挡板可靠近和远离所述第二开边，所述容纳位、所述第一挡板和所述第二挡板用于围成容纳半导体制冷器件的容纳腔。

优选的，所述定位装置还包括第三限位组件，所述第三限位组件包括可位置移动的第三挡板，所述第三挡板可靠近和远离所述容纳位的顶部，所述第三挡板用于抵于半导体制冷器件的顶部，并将半导体制冷器件限位于所述容纳腔。

优选的，所述第一限位组件还包括第一驱动件，所述第一驱动件的输出端与所述第一挡板相连，所述第一驱动件用于带动所述第一挡板靠近和远离所述第一开边。

优选的，所述第一开边位于所述容纳位的左侧或右侧，所述定位座的下部前侧安装有定位条，所述第一挡板的下部后侧连接有第一移动条，所述第一移动条安装于所述定位条，且所述第一移动条通过所述第一驱动件可沿所述定位条左右移动。

优选的，所述第二限位组件还包括第二驱动件，所述第二驱动件的输出端与所述第二挡板相连，所述第二驱动件用于带动所述第二挡板靠近和远离所述第二开边。

优选的，所述第二开边位于所述容纳位的前侧或后侧，所述第二限位组件还包括限位座和支撑板；