[实用新型]探针组件及四线法探针测试组件

说明书

本实用新型涉及电路检测技术领域，具体公开一种探针组件及四线法探针测试组件，所述探针组件包括间隔设置的两检测探针，其中，两所述检测探针均用于电连接至待检测的产品的同一检测点；所述检测探针包括针筒和位于所述针筒靠近所述检测点一端的针头；所述针头位于所述针筒的轴线偏向另一所述检测探针的一侧，使得两所述针头的针尖之间的距离小于两所述针筒的轴线之间的距离。本实用新型提供一种探针组件及四线法探针测试组件，对检测点的尺寸要求较低，有利于在小尺寸的检测点上实现开尔文四线检测。

技术领域

本实用新型涉及电路检测技术领域，尤其涉及一种探针组件及四线法探针测试组件。

背景技术

开尔文四线检测法是对电子产品进行电阻测试的主流方法之一。参见图1，一般地，待测试的产品1上设有第一检测点101和第二检测点102，进行开尔文四线检测之前，需要先使第一探针2a和第二探针2b均与第一检测点101电连接，然后使与第一探针2a构成一检测回路的第三探针2c、与第二探针2b构成另一检测回路的第四探针2d均与第二检测点102电连接。

目前的第一探针2a、第二探针2b、第三探针2c和第四探针2d等检测探针2大多是中心对称结构，即，检测探针2包括轴线重合的针筒201和针头202(针头202的直径通常小于针筒201的直径)，要使两根检测探针2的针头202同时与同一检测点连接，检测点的直径D应当满足以下条件：检测点的最小直径D≥两针筒的轴线之间的距离L。

近年来，随着5G技术的发展，电子产品的集成度越来越高，检测点的直径也越来越小。但针筒受内部的弹簧等零部件限制，直径难以缩小，因此，检测点提供的检测空间严重不足，导致两根检测探针的针头无法同时与同一检测点连接。

因此，现有的四线法探针测试组件限制了检测点尺寸的缩减，不利于电子产品的小型化。

本背景部分中公开的以上信息仅被包括用于增强本公开内容的背景的理解，且因此可包含不形成对于本领域普通技术人员而言在当前已经知晓的现有技术的信息。

实用新型内容

本实用新型的一个目的在于，提供一种探针组件及四线法探针测试组件，对检测点的尺寸要求较低，有利于在小尺寸的检测点上实现开尔文四线检测。

为达以上目的，一方面，本实用新型提供一种探针组件，包括间隔设置的两检测探针，其中，两所述检测探针均用于电连接至待检测的产品的同一检测点；

所述检测探针包括针筒和位于所述针筒靠近所述检测点一端的针头；

所述针头位于所述针筒的轴线偏向另一所述检测探针的一侧，使得两所述针头的针尖之间的距离小于两所述针筒的轴线之间的距离。

可选的，所述针头与所述检测点连接的一端的端面为倾斜平面结构；

两所述倾斜平面之间的距离朝靠近所述检测点的方向逐渐减小。

可选的，所述针头与所述检测点连接的一端的端面为圆弧曲面结构。

可选的，所述检测探针由铜制成。

可选的，所述针筒内部设有用于驱使所述针头往靠近所述检测点的方向运动的弹簧。

另一方面，提供一种四线法探针测试组件，用于对待测试的产品上的第一检测点和第二检测点之间的电阻进行检测，其包括两组任一所述的探针组件；

一组所述探针组件的两检测探针分别记为第一探针和第二探针；另一组所述探针组件的两检测探针分别记为第三探针和第四探针；

所述第一探针和第二探针均用于电连接至第一检测点，与所述第一探针构成一检测回路的第三探针、与第二探针构成另一检测回路的第四探针均用于电连接至所述第二检测点。

可选的，还包括用于容纳两组所述探针组件的壳体；